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單片硅鋼片鐵損測(cè)試儀說明書
閱讀：226 發(fā)布時(shí)間：2022-9-12
一、硅鋼片鐵損儀主要應(yīng)用在以下幾個(gè)方面:
○硅鋼片的進(jìn)、出料試驗(yàn).
○鍛燒過程中的品質(zhì)控制.
○矽鋼片的品質(zhì)管理等.
二、硅鋼片鐵損儀的特點(diǎn):
* 非破壞性的測(cè)量方式,且能直接讀取其鐵損值.
* 鐵損值以W/kg顯示方式.
* 采用觸摸式數(shù)碼設(shè)定開關(guān),操作方便、明了.
* 探頭離開試樣時(shí)自動(dòng)停止測(cè)試，避免長時(shí)間工作.
* 利用標(biāo)準(zhǔn)鐵板利于探頭的校準(zhǔn).
* 非破壞性的測(cè)量方式,且能直接讀取其鐵損值.
* 鐵損值以W/kg顯示方式.
* 采用觸摸式數(shù)碼設(shè)定開關(guān),操作方便、明了.
* 探頭離開試樣時(shí)自動(dòng)停止測(cè)試，避免長時(shí)間工作.
* 利用標(biāo)準(zhǔn)鐵板利于探頭的校準(zhǔn).
* 自動(dòng)控制磁通密度.
* 抗電源雜訊功能強(qiáng),無須使用AC穩(wěn)定電源.
* 只需要一個(gè)測(cè)試探頭，可適應(yīng)各種試樣的厚度和寬度.
三、硅鋼片鐵損儀的測(cè)試原理:
將繞有激磁線圈和磁束檢出線U型磁鐵置于被測(cè)試樣上即開成閉合磁路。如果該U型磁鐵的磁路斷面 面積比試片內(nèi)磁路斷面面積大許多時(shí)，則激磁線圈加電壓時(shí)所產(chǎn)生的激磁電流與磁通檢出線圈上產(chǎn)生的電 壓乘積即為試片內(nèi)之損耗。本測(cè)定器備有試片厚度和測(cè)定用磁能密度選擇開關(guān)，選擇、設(shè)定后，試片的鐵 損值便可立即讀出。鐵損值可由此式得知：鐵損=試片內(nèi)損耗/試片內(nèi)磁路部分的有效重量。
試片內(nèi)磁路部分的有效重量為試片厚度、試片內(nèi)磁路面積與試片密度的算術(shù)乘積。而本裝置的內(nèi)置磁 路寬度與長度已固定，只需設(shè)定板厚與磁通密度即可測(cè)定鐵損。
【注】若需要詳細(xì)說明書，請(qǐng)下載附件資料。