韋氏硬度檢測方法起源于美國，由美國Webster公司生產(chǎn)Webster B韋氏硬度計。韋氏硬度計早在20世紀(jì)80年代就隨鋁型材生產(chǎn)線的引進(jìn)而進(jìn)入我國。由于其使用上的特點(diǎn)，應(yīng)用逐年增多，且國內(nèi)已能生產(chǎn)品質(zhì)優(yōu)良的韋氏硬度計。現(xiàn)在已有韋氏硬度計計量檢定規(guī)程“金屬韋氏硬度計JJG944―1999（試行）"和有色金屬行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《鋁合金韋氏硬度試驗(yàn)方法》YS/T420—2000和YS/T471—2004《銅合金韋氏硬度試驗(yàn)方法》標(biāo)準(zhǔn)。但有關(guān)韋氏硬度的技術(shù)資料介紹較少。

韋氏硬度計的基本原理是采用一定形狀的淬火壓針，在標(biāo)準(zhǔn)彈簧檢測力作用下壓入試樣表面，定義0.0lmm的壓入深度為一個韋氏硬度單位。材料的硬度與壓入深度成反比。壓入越淺硬度越高，壓入越深硬度越低。
韋氏硬度計計算公式
HW=20-L/0.01　　 (8—1)
式中：　HW——韋氏硬度符號；
L——壓針伸出長度，即壓入試樣深度/mm；
0.01——定義值/mm
硬度值的表示：如壓針只壓入深度0.05mm，表頭指針將指示在15刻度。表示為HW=20-5=15單位硬度值，將其書寫于硬度符號之前，即為15HW。
韋氏硬度計結(jié)構(gòu)
W-20韋氏硬度計檢測方法全貌見圖1，

其結(jié)構(gòu)見圖8―2，

壓針形狀見圖3

如圖所示，硬度計由以下三個主要部件組成：框架、手柄、壓針組件。壓針組件包括壓針、負(fù)荷彈簧、調(diào)節(jié)螺母、壓針套筒、復(fù)位鍵、復(fù)位彈簧、表頭等。壓下手柄時，壓針組件作為一個整體移向砧座。

在壓下手柄過程中，壓金組件移向被測件，壓針**首先與被測件接觸。繼續(xù)壓緊手柄，會使壓針一部分刺入被測件，另一部分向后退入壓針套筒內(nèi)，并與負(fù)荷彈簧的彈力相作用。

當(dāng)壓針套筒的端面與被測件相抵時，即可感到已觸到底，此時表頭指針將指到一個硬度讀數(shù)，這就是被測件的硬度值。

硬度計的表頭安裝在壓針套筒的上端，指針由壓針的移動來驅(qū)動。對于特別硬的金屬，壓針將全部退入壓針套筒，直至其**與壓針套筒端面平齊。這是壓針的*大行程位置，指針會指到20。對于特別軟的金屬，壓針**將全部壓入金屬中，而不會向壓針套筒內(nèi)移動，這時表頭指針將保持在*低位置不變。

韋氏硬度計技術(shù)參數(shù)見表

韋氏硬度計校準(zhǔn)
1.標(biāo)準(zhǔn)硬度片
1）韋氏硬度計應(yīng)配備標(biāo)準(zhǔn)硬度片，用于校準(zhǔn)。
2）標(biāo)準(zhǔn)硬度片的工作面應(yīng)標(biāo)明韋氏硬度值和E標(biāo)尺的洛氏硬度值。
2.校準(zhǔn)要求
1）硬度計的滿刻度校準(zhǔn)值為20HW，允許誤差為±0.5HW。
2）用標(biāo)準(zhǔn)硬度片校準(zhǔn)硬度計，讀數(shù)應(yīng)符合硬度片標(biāo)明的硬度值，其允許誤差±0.5HW。

W-20韋氏硬度計檢測方法檢測方法檢測方法

1）將試樣置于砧座和壓針之間，壓針應(yīng)與檢測面垂直，如圖8—4所示。輕輕壓下手柄，使壓針壓住試樣。
  2）快速壓住手柄，施加足夠的力，使壓針套筒的端面緊壓在試樣上，從表頭讀出硬度值（**到0.5HW）。超出限度的壓力下，會被彈簧平衡掉，不會損壞硬度計。
3）再次測量時兩相鄰壓痕中心間距離應(yīng)不小于6mm。
4）在測量較軟金屬時，表頭指針會瞬間達(dá)到某一數(shù)值，隨后可能會稍有下降，此時測量以觀察到的*大值為準(zhǔn)。
5）在一般情況下，每個試樣至少測量3個點(diǎn)。以測量值的算數(shù)平均值作為試樣硬度值，計算結(jié)果修約到0.5HW