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CLAS-2D™Shack-Hartmann波前儀系統(tǒng)涵括了干涉儀(interferometer)、光斑分析(beamprofiler)、光束品質(zhì)計(jì)(Beamqualitymeter)

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CLAS-2D™ Shack-Hartmann波前儀系統(tǒng)涵括了干涉儀(interferometer)、光斑分析(beam profiler)、光束品質(zhì)計(jì)(Beam quality meter)。系統(tǒng)的軟體用以分析光的畸變(aberration)，包含散光性(astigmatism), 慧差(coma), 球面畸變(spherical aberration), 聚焦誤差(focus error/collimation), 傾斜(tilt)以及更多。 CLAS-2D還附加量測(cè)M2光斑品質(zhì)、MTF(Moudulation transfer function)、Strehl Ratio、近場(chǎng)和遠(yuǎn)場(chǎng)的光斑散度(Beam divergence)，以及其他的光斑參數(shù)。雷射可用連續(xù)(CW)和脈衝式(Pulse)，機(jī)型有可見光、近紅外光、遠(yuǎn)紅外光三種型號(hào)可選擇。
CLAS-2D系統(tǒng) 特點(diǎn)：

雷射光斑解析Laser beam diagnostics
光學(xué)測(cè)試Optical testing
對(duì)準(zhǔn)Alignment
角度測(cè)量Angular measurement
準(zhǔn)直Collimation
表面測(cè)量Surface measurement

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