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ROC單發(fā)式自相干儀 詳細(xì)摘要： FemtoEasyROC單發(fā)式自相干儀，有著極為緊湊且堅(jiān)固的機(jī)身，並能針對(duì)LASERsingleshot做量測，且無須另外校正，能針對(duì)不同波長、不同pulsed...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2022-06-03 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
MS-ROC多發(fā)式自相干儀 詳細(xì)摘要： FemtoEasyMS-ROC多發(fā)式自相干儀，藉由二倍頻產(chǎn)生之技術(shù)，使得此相干儀在高穩(wěn)定量測品質(zhì)的同時(shí)也能保有極為緊湊的機(jī)身，特別適合量測sub-nJperpu...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2022-06-03 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
SP932U光束分析儀(光斑分析)Beam Profiler 詳細(xì)摘要： SP932U光束分析儀(光斑分析儀)BeamProfiler可以精確地捕獲並分析190nm到1100nm的波長
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2022-06-03 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
SP920s光束分析儀(光斑分析)Beam Profiler 詳細(xì)摘要： SP920s光束分析儀(光斑分析儀)BeamProfiler可以精確地捕獲並分析190nm到1100nm的波長，在1070nm的響應(yīng)要優(yōu)於其他所有相機(jī)
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2022-06-03 參考價(jià)： 面議 在線留言 -
BeamPeek光束分析儀 詳細(xì)摘要： 新產(chǎn)品！BeamPeek™高功率雷射束分析和功率測量系統(tǒng)BeamPeek™系統(tǒng)可以同時(shí)對(duì)(3D列印)積層製造(AM)雷射進(jìn)行光束分析、焦...
產(chǎn)品型號(hào)： 所在地： 更新時(shí)間：2022-06-03 參考價(jià)： 面議 在線留言