材料熱物性研究中，熱傳導(dǎo)率、熱擴(kuò)散率、熱浸透率是可以藉由計(jì)算公式互相帶算出來的。例如：當(dāng)量測(cè)到熱擴(kuò)散率數(shù)值時(shí)，若已知材料的密度便可帶算出熱傳導(dǎo)率，若已知材料的比熱容便可帶算出熱浸透率。

Bethel公司的熱波分析儀採(cǎi)用點(diǎn)雷射方法對(duì)樣品做周期性加熱，使得樣品表面形成熱波，並用輻射溫度計(jì)測(cè)得熱波，屬於非接觸是量測(cè)方式，此方式已在2018年獲得JIS R7240標(biāo)準(zhǔn)規(guī)範(fàn)。

TA-35對(duì)於材料熱擴(kuò)散的量測(cè)，可量測(cè)垂直Z方向、水平XY方向熱擴(kuò)散，使用點(diǎn)雷射加熱方式，可以對(duì)樣品做小面積掃描量測(cè)，以幫助分析面積範(fàn)圍內(nèi)材料熱擴(kuò)散均一性。

等晶片需要石墨稀散熱材料提高散熱效能，TA-35已獲得大廠認(rèn)可做為石墨稀散熱片熱擴(kuò)散測(cè)試基準(zhǔn)。

• 非接觸式雷射對(duì)樣品加溫方式，量測(cè)材料水平及垂直方向熱擴(kuò)散。
• 無需專用治具，樣品厚度均一即可，形狀大小精度無限制。
• 樣品可連續(xù)掃描，數(shù)據(jù)可整合成3D MAP，方便判讀材料熱擴(kuò)散均一性。
• 樣品厚度數(shù)十um就可測(cè)試，測(cè)試材料從低導(dǎo)熱PI材料到高導(dǎo)熱單晶鑽石皆可測(cè)試。

從圖表中能得知Cu與Ag在不同厚度的量測(cè)數(shù)據(jù)均雷同，且與文獻(xiàn)值差異不大。

考慮到雷射強(qiáng)度，多層石墨板的熱擴(kuò)散率為7.2x10^-4m²s^-1，實(shí)測(cè)數(shù)據(jù)與設(shè)計(jì)值7～8x10^-4m²s^-1相吻合

量測(cè)3D圖，導(dǎo)熱係數(shù)的均勻性可以用3D圖形表示，更容易判別。

即使使用相同的樹脂，不一樣的成型條件和模具形狀，導(dǎo)熱係數(shù)也會(huì)發(fā)生變化，利用TA獨(dú)特的3D繪圖表示，能夠了解到產(chǎn)品在不同方向的熱分佈。

該圖為某電池大廠（日商）的3D Mapping

圖為使用TA-35材料熱擴(kuò)率散測(cè)試儀來量測(cè)目前電池產(chǎn)業(yè)中非常重要的薄膜電池。此為金屬膜與陶瓷或樹脂的兩層貼合而成的薄膜，透過3D Mapping分佈測(cè)量法所量測(cè)出在特定面積中熱擴(kuò)散率分布的圖形，從此圖形中可評(píng)估多層材料在固定面積中的貼合狀況，可判定是否存在缺陷以及材料的均勻性。

由於層壓材料TIM是通過堆疊具有不同熱傳導(dǎo)率的材料所製成,因此成品的熱傳導(dǎo)率將會(huì)根據(jù)黏附的均勻性發(fā)生各種不一樣的變化,但是量測(cè)層壓材料TIM的熱傳導(dǎo)率一直都是非常困難的,這也是開發(fā)時(shí)所關(guān)注的重點(diǎn)之一。

TA-35是透過連續(xù)量測(cè)垂直向的相位延遲來取得正相關(guān)的熱傳導(dǎo)率。不僅適用於材料熱性能評(píng)價(jià)，也適用於零件的缺陷檢查以及均勻性確認(rèn)。

TIM材 密著度範(fàn)例

面外量測(cè)
(1)測(cè)量值：9.79x10-6m2s-1
(2)實(shí)測(cè)值與標(biāo)準(zhǔn)值相差±3%
(3)認(rèn)證值：9.51x10-6m2s-1
(4)厚度：1048μm 直徑：10mm

面內(nèi)量測(cè)
(1)測(cè)量值：9.04x10-6m2s-1
(2)實(shí)測(cè)值與標(biāo)準(zhǔn)值相差±5%
(3)認(rèn)證值：9.51x10-6m2s-1
(4)厚度：1048μm 直徑：10mm

(1) 關(guān)於面內(nèi)方向上的熱擴(kuò)散率，顯示了此分析方法中有考慮樣品的厚度和方向上的熱擴(kuò)散率。
(2) 從對(duì)玻璃陶瓷，Al2O3-TiC和各向同性石墨進(jìn)行了測(cè)量，其結(jié)果量測(cè)值和文獻(xiàn)值相吻合。
(3) 量測(cè)過程中呈現(xiàn)了點(diǎn)週期性加熱輻射測(cè)溫法的驗(yàn)證方法
(4) 採(cǎi)用新型點(diǎn)量測(cè)方式，可用分佈測(cè)量法評(píng)估樣品缺陷和不均勻性