測PID組件的濕熱老化箱是一種專門用于測試PID組件在濕熱環(huán)境下的老化性能的設(shè)備。它具備模擬高濕度、高溫等復(fù)雜環(huán)境條件的能力，從而能夠評估PID組件在這些條件下的穩(wěn)定性和可靠性。后方架子3層+電木板3張顯示器擺臂

測試孔10個直徑100mm

型號：AP-HX-600A

內(nèi)箱尺寸：1000*1000*600mm      (W* H *D)　

外型尺寸(約)：1800*1400*1400mm     (W* H *D)

控制器：7英寸超大觸摸AP-900智能可程序溫濕度控制器

溫度范圍：RT～+150℃ （含1ＫＷ產(chǎn)品發(fā)熱負載）

降溫速率：升溫約1℃/min（含1ＫＷ產(chǎn)品發(fā)熱負載） 降溫約3℃/min（含1ＫＷ產(chǎn)品發(fā)熱負載）

內(nèi)外箱材質(zhì)：測試區(qū)內(nèi)箱不銹鋼板 ( SUS # 304 )，外箱烤漆。

壓縮機：法國泰康全封閉低噪音轉(zhuǎn)子式壓縮機或日本日立高效能全封閉壓縮機

電源要求:AC380V電源

保溫層：硬質(zhì)聚氨酯泡沫

測PID組件的濕熱老化箱需要注意的是，不同型號的PID組件和不同的應(yīng)用環(huán)境可能需要不同的測試條件和參數(shù)設(shè)置。因此應(yīng)根據(jù)具體情況進行調(diào)整和優(yōu)化。