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詳細(xì)介紹
CTMSV-1000系列擁有大掃描區(qū)域和強(qiáng)射線穿透能力，具備超大工件檢測(cè)能力，適用于航空航天和汽車行業(yè)中的大中型鑄件、焊接件和復(fù)合材料，以及大尺寸巖石、高密度金屬考古文物等CT檢測(cè)。
特點(diǎn)與優(yōu)勢(shì)
● 高電壓X射線源，對(duì)高密度金屬穿透能力強(qiáng)
● 配備平板探測(cè)器和線陣探測(cè)器，滿足多樣化測(cè)試需求
● 通過螺旋掃描、偏置掃描進(jìn)一步擴(kuò)展成像區(qū)域
● 掃描過程簡單、快速重建成像，可編程掃描工藝保證批量樣件測(cè)試的一致性和便捷性
● 專用算法增強(qiáng)圖像清晰效果，獲得優(yōu)質(zhì)圖像質(zhì)量
技術(shù)指標(biāo)
分辨率
細(xì)節(jié)分辨率 | 30μm |
X射線源
類型 | 閉管 | |
電壓 | 600KV | 500KV/450KV |
焦斑尺寸* | 0.7mm @0.7kW 2.0mm @1.5kW | 0.4mm @0.7kW 1.0mm @1.5kW |
平板探測(cè)器**
成像面積 | 427mm×427mm |
像素矩陣 | 3072×3072 |
樣品
可檢測(cè)樣品尺寸 | 800mm×1100mm(直徑×高度) |
樣品承重 | 100kg |
設(shè)備物理參數(shù)
設(shè)備尺寸 | 3700mm×2300mm×2800mm(長×寬×高) |
設(shè)備重量 | 35000kg~60000kg |
可根據(jù)需求配置硬件和軟件
焦斑尺寸*: 符合 EN 12543
探測(cè)器**: 其他可選尺寸，如400mm×400mm, 302mm×249mm等
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