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    昆山華乃爾精密儀器有限公司>>光學(xué)膜厚測(cè)試儀>>film膜厚測(cè)試儀

    film膜厚測(cè)試儀

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    • film膜厚測(cè)試儀

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    更新時(shí)間:2022-01-25 16:24:44瀏覽次數(shù):515

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    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    film膜厚測(cè)試儀

    詳細(xì)介紹


    film膜厚測(cè)試儀

    film膜厚測(cè)試儀

    應(yīng)用介紹


    film膜厚測(cè)試儀應(yīng)用在透明及半透明材料的厚度或涂層的測(cè)量,包括半導(dǎo)體鍍膜,光刻膠,玻璃減反膜測(cè)量,藍(lán)寶石鍍膜,ITO玻璃,太陽(yáng)能鍍膜玻璃,各種襯底上的膜厚,膜的顏色測(cè)量,卷對(duì)卷柔性涂布,其他需要測(cè)量膜厚的場(chǎng)合等,無論有無底材或者底材是何種材料均無影響。應(yīng)用在精密半導(dǎo)體wafer,ITO玻璃,fpcpcb膜厚,材料表面光學(xué)鍍膜,電鍍陽(yáng)極處理,UV膠厚等領(lǐng)域。


    系統(tǒng)結(jié)構(gòu):

    產(chǎn)品型號(hào)

    A3-ST-100

    A3-SR-100

    A3-ST-200

    A3-SR-200

    A3-ST-300

    A3-SR-300

     

    產(chǎn)品尺寸

     

    W270*D217*H90

    測(cè)試支架

    (可根據(jù)客戶需求調(diào)整)

    W270*D217*H90

    測(cè)試支架

    (可根據(jù)客戶需求調(diào)整)

    W270*D217*H90+H140

    測(cè)試支架

    (可根據(jù)客戶需求調(diào)整)

    W270*D217*H90+H140

    測(cè)試支架

    (可根據(jù)客戶需求調(diào)整)

    W270*D217*H90

    測(cè)試支架

    (可根據(jù)客戶需求調(diào)整)

    W270*D217*H90

    測(cè)試支架

    (可根據(jù)客戶需求調(diào)整)

    測(cè)試方式

    可見光(VIS )

    透射(T)

    可見光VIS

    反射(R)

    紫外+可見UV+VIS

    透射(T)

    紫外+可見+UV+VIS

    反射(R)

    IR

    透射(T)

    IR

    反射(R)

    波長(zhǎng)范圍

    380 - 780 nm

    380 - 780 nm

    250 - 1000 nm

    250 - 1000 nm

    900 - 1200 nm

    900 - 1200 nm

    光源

    鎢鹵素?zé)?/span>

    鎢鹵素?zé)?/span>

    鎢鹵素?zé)?span lang="EN-US">+氘燈

    鎢鹵素?zé)?span lang="EN-US">+氘燈

    鎢鹵素?zé)?/span>

    鎢鹵素?zé)?/span>

    光路和傳感器

    光纖式(FILBER )+進(jìn)口光譜儀

    入射角

    0 (垂直入射)  (0 DEGREE)

    參考光樣品

    硅片

    光斑大小

    LIGHT SPOT

    About 1 mm(標(biāo)配,可以根據(jù)用戶要求配置)

    樣品大小

    SAMPLE SIZE

    10 mm TO 300 mm (可以根據(jù)用戶要求配置)


    光學(xué)測(cè)量技術(shù)參數(shù)(OPTICAL SPECIFICATION


    測(cè)試方式

    反射, 透射

    透射準(zhǔn)確性

    Transmission Accuracy

    1%

    反射準(zhǔn)確性

    Reflaction Accuracy

    1%

    精度


    0.1%


    膜厚測(cè)量性能指標(biāo)(THICKNESS SPECIFICATION):


    產(chǎn)品型號(hào)

    A3-SR-100

    A3-SR-200

    A3-SR-300

    厚度測(cè)量1

    Thickness

    15 nm - 100 um

     

    2nm - 200 um

    500nm-1000um

    折射率1(厚度要求)

    N

    100 nm 以上

    50nm and up

     ---------------

    準(zhǔn)確性2

    Accuracy

     2 nm 0. 5%

    精度3

    precision

    0.1 nm

    1表內(nèi)為典型數(shù)值, 實(shí)際上材料和待測(cè)結(jié)構(gòu)也會(huì)影響性能

    2 使用硅片上的二氧化硅測(cè)量,實(shí)際上材料和待測(cè)結(jié)構(gòu)也會(huì)影響性能

    3 使用硅片上的二氧化硅(500納米)測(cè)量30次得出的1階標(biāo)準(zhǔn)均方差,每次測(cè)量小于1.


    軟件(SOFTWARE)


    檢測(cè)項(xiàng)目

    標(biāo)準(zhǔn)型

    層數(shù)

    10

    材料

    表格型和函數(shù)型

    粗糙度模型

    反射/透射

    反射型+透射型

    材料庫(kù)

    表格型+函數(shù)型

    入射角

    垂直入射

    折射率測(cè)量


    售后服務(wù)(GARANTEE AND ASERVICE):

     基本服務(wù)

    1年免費(fèi)軟件升級(jí)

    1年材料庫(kù)更新

    1年免費(fèi)失效零件更換(燈泡,光纖,硅片除外)


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