具有模塊交換功能的超小型測(cè)頭，它使用應(yīng)變片機(jī)構(gòu)，比機(jī)械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測(cè)頭的壽命更長(zhǎng)、精度更高
　　TP200與SCR20和PI200-3配用
　　TP200系統(tǒng)組件包括：
　　TP200或TP200B測(cè)頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動(dòng)公差）
　　TP200測(cè)針模塊—選擇固定越程測(cè)力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)力）或LF（低測(cè)力）
　　PI200-3測(cè)頭接口
　　SCR200測(cè)針交換架
　　還有一種EO模塊（長(zhǎng)過行程），過行程測(cè)力與SF相同，但工作范圍更大，并在測(cè)頭Z軸方向提供保護(hù)。

　　特性與優(yōu)點(diǎn)
　　應(yīng)變片技術(shù)具有的重復(fù)性和精確的三維輪廓測(cè)量
　　零復(fù)位誤差
　　無各向同性影響
　　六向測(cè)量能力
　　測(cè)針測(cè)量距離達(dá)100mm（GF測(cè)針）
　　快速測(cè)頭模塊交換，無需重新標(biāo)定測(cè)尖
　　壽命>1000萬次觸發(fā)

　　TP200/TP200B測(cè)頭本體
　　TP200
　　TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的重復(fù)性和精確的三維輪廓測(cè)量，即使配用長(zhǎng)測(cè)針時(shí)也不例外。
　　傳感器技術(shù)提供亞微米級(jí)的重復(fù)性，并且消除了機(jī)械結(jié)構(gòu)式測(cè)頭存在的各向異性問題。測(cè)頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
　　TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動(dòng)公差。這有助于克服因坐標(biāo)測(cè)量機(jī)傳導(dǎo)振動(dòng)或在移動(dòng)速度很高的情況下使用長(zhǎng)測(cè)針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。
　　請(qǐng)注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測(cè)針。