坐標(biāo)測(cè)量機(jī)空間精度檢測(cè)規(guī)(MCG)系統(tǒng)
　　坐標(biāo)測(cè)量機(jī)空間精度檢測(cè)規(guī)(MCG)用于監(jiān)控坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的空間測(cè)量性能。
　　坐標(biāo)測(cè)量機(jī)空間精度檢測(cè)規(guī)MCG
　　原始設(shè)備制造商(OEM)或獨(dú)立校準(zhǔn)服務(wù)商通常每年對(duì)大多數(shù)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)進(jìn)行一次維修和重新校準(zhǔn)。一般按照ISO、ASME或VDI/VDE等*的標(biāo)準(zhǔn)所定義的程序執(zhí)行測(cè)試。這些測(cè)試需要使用固定長(zhǎng)度的球桿儀或步距規(guī)和激光測(cè)量系統(tǒng)（例如雷尼紹XL-80激光干涉儀）。然后使用測(cè)量數(shù)據(jù)來修改坐標(biāo)測(cè)量機(jī)控制器的電子誤差圖，使其恢復(fù)到精度規(guī)格范圍之內(nèi)。這一程序非常重要，已獲得廣泛認(rèn)可，但耗時(shí)耗資。
　　許多最終用戶希望有一種更簡(jiǎn)單的方法，可以在這些檢測(cè)之間定期監(jiān)控精度或在碰撞后進(jìn)行監(jiān)控。使用雷尼紹MCG，用戶通常只需10-20分鐘就可以依照ISO10360-2的標(biāo)準(zhǔn)獲得測(cè)定行程內(nèi)的精度。這些檢驗(yàn)結(jié)果可以保證在坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上進(jìn)行的測(cè)量是精確的，或者為坐標(biāo)測(cè)量機(jī)需要檢修或重新標(biāo)定提供確鑿證據(jù)。該方法檢測(cè)速度快、經(jīng)濟(jì)高效；不同高度的支架和不同長(zhǎng)度的測(cè)量桿意味著在大型和小型坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上都可以檢測(cè)行程內(nèi)的精度。
　　MCG檢測(cè)規(guī)組件
　　測(cè)頭的測(cè)針插入一個(gè)實(shí)際上為參考"球"桿的底部。測(cè)頭帶動(dòng)量臂一起繞球形路徑運(yùn)動(dòng)，在不同的位置讀取半徑讀數(shù)。這些讀數(shù)的范圍表示坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的空間測(cè)量性能。重復(fù)讀數(shù)序列可以檢查系統(tǒng)的重復(fù)性。
　　坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)量性能是在整個(gè)測(cè)量空間內(nèi)的任意距離上，在任意平面內(nèi)的兩個(gè)點(diǎn)之間的誤差。
　　專用標(biāo)定測(cè)針可以通過適當(dāng)?shù)霓D(zhuǎn)接頭與TP1、TP2、TP20、TP6A配合使用。