詳細(xì)說明

產(chǎn)品品牌：Bruker

產(chǎn)品產(chǎn)地：德國

產(chǎn)品型號：ContourGT-X

產(chǎn)品描述：ContourGT-X是實驗室開發(fā)到批量生產(chǎn)均可適用的高性能儀器

用于工藝質(zhì)量監(jiān)控定標(biāo)性測試系統(tǒng)ContourGT-X是實驗室開發(fā)到批量生產(chǎn)均可適用的高性能儀器。它積累了代產(chǎn)品在白光干涉技術(shù)上的創(chuàng)新，實現(xiàn)了快速地三維表面測量，從納米級粗糙度表面的測量到毫米級臺階的測量，垂直分辨率可達亞納米級。可編程的XYZ控制和*的掃描頭自動控制，使得儀器操作簡便易行。配備的Vision64軟件，具有業(yè)界儀器測量和數(shù)據(jù)分析功能，而其優(yōu)化設(shè)計的用戶界面為使用者自行定義自動測量和數(shù)據(jù)分析提供了便利。       ContourGT-X是當(dāng)今業(yè)界*的白光干涉儀，可用于眼科鏡片、科研、高亮度LED、半導(dǎo)體器件、TSV、太陽能電池片、汽車零部件、觸摸屏和加工零件等各行業(yè)，為用戶提供快速、準(zhǔn)確地三維非接觸式測量。內(nèi)部激光自校準(zhǔn)技術(shù)可以自動校準(zhǔn)因環(huán)境或機械不穩(wěn)定產(chǎn)生的漂移，無需標(biāo)準(zhǔn)塊。大學(xué)、研究所，工業(yè)領(lǐng)域的LED行業(yè)、太陽能行業(yè)、觸摸屏行業(yè)、半導(dǎo)體行業(yè)以及數(shù)據(jù)存儲行業(yè)、科學(xué)研究、產(chǎn)品開發(fā)、質(zhì)量控制及失效分析等領(lǐng)域業(yè)界*的白光干涉儀ContourGT-X配備傾斜調(diào)整支架、全自動X,Y, Z 樣品臺、自動視場目鏡轉(zhuǎn)換臺，測試過程更快、更便捷。節(jié)省空間高穩(wěn)定性的基座設(shè)計以及與機臺集成一體式的防震系統(tǒng)，使系統(tǒng)具有防震性與穩(wěn)定性。配備新的Vision64軟件，具有業(yè)界儀器測量和數(shù)據(jù)分析功能，而其優(yōu)化設(shè)計的用戶界面為使用者自行定義自動測量和數(shù)據(jù)分析提供了便利。

儀器特性：

·  業(yè)界，大視場下高的垂直分辨率

·  從0.5x到200x不同放大倍率實現(xiàn)不同面型和織構(gòu)表面的表征

·  硬件的優(yōu)化設(shè)計進一步提升的儀器抗噪聲能力、系統(tǒng)靈活性和測量穩(wěn)定性

·  激光自校準(zhǔn)技術(shù)使得儀器間測量數(shù)據(jù)一致，保證測量的重復(fù)性和準(zhǔn)確性

·  優(yōu)異的縫合能力可以對上千個數(shù)據(jù)無縫拼接，實現(xiàn)樣品大面積檢測

·  多核處理器和64位軟件使數(shù)據(jù)分析速度提高十倍以上