平面光帶檢測(cè)儀

平面光帶檢測(cè)儀用途：
機(jī)械密封件、光學(xué)零件、高級(jí)平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌等高精度平面零件的平面檢測(cè)。
功率：20W
電源：220V/50Hz
專用燈源照射
平面平晶規(guī)格Φ60*20mm、Φ80*20mm、Φ100*25mm Φ150mm以上屬非標(biāo)立品需訂做

平面平晶產(chǎn)品特點(diǎn)：
平面平晶是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。
平面平晶用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度。亦可用于檢定高精度的平面零件，例如，平面光學(xué)零件、高級(jí)平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。平面平晶特別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。