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德國Mahr 馬爾 MarSurf WI 50 表面的三維測量和分析 無接觸
靈活的測量解決方案
MarSurf WI 50 是一臺強大的表面分析儀,用于表面的三維測量和分析 - 無接觸,與材料無關,而且速度快.
靈活的測量解決方案
MarSurf CMexplorer有堅固的結(jié)構且對環(huán)境波動不敏感,所以適合測試實驗室和生產(chǎn)環(huán)境中的質(zhì)量保證測量。
典型測量任務
粗糙度測量符合
ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178
表面特征輪廓測量(包括體積、磨損、摩擦學)
輪廓和形狀 (2D, 3D)
孔,顆粒分析
缺陷檢測...
數(shù)據(jù)質(zhì)量
我們最重要的標準之一,即優(yōu)異的精度、準確性、可再現(xiàn)性和文檔記錄,保證可追溯性和可審核性。我們?yōu)榭蛻籼峁┑姆站褪翘峁┠軌蚩煽康赜糜诠こ獭a(chǎn)品、過程設計和質(zhì)量控制領域的定量測量值。
MarSurf WI 50 | |
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分辨率 | 0.2 (nm) 垂直 |
測量速度 | 140 fps |
測量原理 | 白光干涉 高性能 LED (650 nm / white) |
其他 | xyz 方向碰撞檢測 |
電源 | 100 - 240 V |
表面參數(shù) | ISO 4287、ISO 13565、ISO 25178… |
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