顯微鏡顆粒分析系統(tǒng)

 PLD-MPCS2.0系列顯微鏡顆粒分析系統(tǒng)是應(yīng)用在汽車零部件、航空航天、液壓潤滑行業(yè)顆粒度檢測(cè)的專業(yè)性分析測(cè)試儀器，具有專業(yè)性強(qiáng)，分析性能優(yōu)異、標(biāo)準(zhǔn)模塊多、測(cè)量項(xiàng)目全等功能，測(cè)定結(jié)果可追溯等優(yōu)勢(shì)。

普勒新世紀(jì)實(shí)驗(yàn)按照普洛帝分析儀器事業(yè)部的規(guī)劃，于2001年推向市場(chǎng)的成熟系統(tǒng)儀器；

觀察顆粒形貌；

辨別顆粒材料性質(zhì)

分析粒度分布、數(shù)量、大小、平均長(zhǎng)徑比以及長(zhǎng)徑分布等；

直觀、形象、準(zhǔn)確、測(cè)試范圍寬以及自動(dòng)識(shí)別、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、自動(dòng)標(biāo)定等特點(diǎn)；

正偏光顯微測(cè)試可以準(zhǔn)確判別顆粒的金屬非金屬特性；

避免激光法的產(chǎn)品缺陷，擴(kuò)展檢測(cè)范圍；

現(xiàn)實(shí)NAS、ISO等標(biāo)準(zhǔn)方法的認(rèn)可；

屬于科研級(jí)別的新型的粒度測(cè)試手段；

系統(tǒng)組成

該系統(tǒng)為一種圖像法粒度分布測(cè)試以及顆粒型貌分析等多功能顆粒分析系統(tǒng)，該系統(tǒng)包括：

正置式偏振光光學(xué)顯微鏡

數(shù)字500萬級(jí)別以上的CCD攝像頭

全自動(dòng)0.1微米級(jí)別的載物臺(tái)

圖像處理與分析軟件

電腦和打印機(jī)

等部分組成；

將傳統(tǒng)的顯微測(cè)量方法與現(xiàn)代的圖像處理技術(shù)結(jié)合的產(chǎn)物；

專用數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將顯微鏡的圖像拍攝及掃描；

R232接口數(shù)據(jù)傳輸方式將顆粒圖像傳輸?shù)椒治鱿到y(tǒng)；

顆粒圖像分析軟件及平臺(tái)對(duì)圖像進(jìn)行處理與分析；

顯示器及打印機(jī)輸出分析結(jié)果；

系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)

檢測(cè)顆粒≥1um

自動(dòng)測(cè)量并計(jì)算出單個(gè)顆粒的面積、寬度、內(nèi)切圓、分布、數(shù)量、大小、平均長(zhǎng)徑比以及長(zhǎng)徑分布等尺寸

高精度XYZ三軸自動(dòng)掃描臺(tái)，可執(zhí)行自動(dòng)聚焦功能

高分辨率專用數(shù)字采集系統(tǒng)500萬級(jí)別以上CCD攝像頭

單張濾膜檢測(cè)及5μm以上顆粒的掃描時(shí)間和評(píng)價(jià)時(shí)間最小1分鐘

自動(dòng)調(diào)節(jié)光強(qiáng)、自動(dòng)聚焦、多視場(chǎng)自動(dòng)掃描、自動(dòng)采集圖像、自動(dòng)顆粒統(tǒng)計(jì)分析

自動(dòng)辨別金屬顆粒、非金屬顆粒

自動(dòng)查詢顆粒的粒徑和數(shù)量

在硬件支持條件下軟件*升級(jí)服務(wù)

測(cè)試部件

發(fā)動(dòng)機(jī)及傳動(dòng)系統(tǒng) (閥體，凸輪軸，曲軸，變速箱， 車輪等部件)
液壓元件 (ABS，ESP，轉(zhuǎn)向系統(tǒng)等部件)
油路供給系統(tǒng) (閥體，管件，管路零部件等) 
電子組件

應(yīng)用場(chǎng)合更加廣泛，航空、航天、航海、電力、石油、化工、交通、港口、冶金、機(jī)械、汽車、制造等領(lǐng)域進(jìn)行固體顆粒污染度檢測(cè)。

參數(shù)闡述

型號(hào)：PLD-MPCS2.0~10.0

儀器性能：測(cè)試范圍: 1-500μm系統(tǒng)放大倍數(shù)：40～l000X倍

zui大分辨率：0.1μm顯微鏡誤差：0.02（不包含樣品制備因素造成的誤差）

重復(fù)性誤差：< 5%（不包含樣品制備因素造成的誤差）

數(shù)字?jǐn)z像頭(CCD)：300萬像素

標(biāo)尺刻度：0.1μm

分析項(xiàng)目：粒度分布、長(zhǎng)徑分布、圓形度分布等

自動(dòng)分割速度：< 1秒分割成功率：> 93%

軟件運(yùn)行環(huán)境：Windows 2000、Windows XP

接口方式：RS232或USB方式