日立X射線鍍層測(cè)厚儀FT110A
FT110A是一款XRF臺(tái)式光譜儀,專為電鍍行業(yè)的特定需求而設(shè)計(jì)。像日立分析儀器的其他臺(tái)式光譜儀一樣,F(xiàn)T110A使用簡(jiǎn)單,采用了的高精度X射線熒光技術(shù),并且可以全天候運(yùn)行。除此之外,F(xiàn)T110A還有一些特殊的特性,與常規(guī)的測(cè)厚儀器相比,它更適合大批量的鍍層分析工作。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,提供易于使用、快速和無(wú)損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從22Ti 到92U 的固體或液體樣品。
日立X射線鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用范圍也比較廣泛,主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)領(lǐng)域:
PCB / PWB 表面處理
控制表面處理工藝的能力決定線路板的品級(jí)、可靠性和壽命。根據(jù)IPC 4556和IPC 4552測(cè)量非電鍍鎳(EN,NiP)電鍍厚度和成分結(jié)構(gòu)。日立分析儀器產(chǎn)品幫助您在嚴(yán)控的范圍內(nèi)持續(xù)運(yùn)營(yíng),確保高質(zhì)量并避免昂貴的返工。
電力和電子組件的電鍍
零件必須在規(guī)格范圍內(nèi)被電鍍,以達(dá)到預(yù)期的電力、機(jī)械及環(huán)境性能。 開(kāi)槽的X-Strata和MAXXI系列產(chǎn)品 ,可以測(cè)量小的試片或連續(xù)帶狀樣品,從而達(dá)到 引線框架(引線框架)、連接器插針、線材和端子的上、中和預(yù)鍍層厚度的控制。
IC 載板
半導(dǎo)體器件越來(lái)越小巧而復(fù)雜,需要分析設(shè)備測(cè)量其在小區(qū)域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設(shè)計(jì)為可為客戶所需應(yīng)用提供高準(zhǔn)確性分析,及重復(fù)性好的數(shù)據(jù)。
服務(wù)電子制造過(guò)程 (EMS、ECS)
結(jié)合采購(gòu)和本地制造的組件及涉及產(chǎn)品的多個(gè)測(cè)試點(diǎn),實(shí)現(xiàn)從進(jìn)廠檢查到生產(chǎn)線流程控制,再到最終質(zhì)量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產(chǎn)品幫助您在全生產(chǎn)鏈分析組件、焊料和最終產(chǎn)品,確保每個(gè)階段的質(zhì)量。
光伏產(chǎn)品
對(duì)可再生能源的需求不斷增加,而光伏在收集太陽(yáng)能量方面扮演著重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽(yáng)能電池的質(zhì)量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準(zhǔn)確度和連貫性,從而確保高效率。
受限材料和高可靠性篩查
與復(fù)雜的供應(yīng)鏈合作,驗(yàn)證和檢驗(yàn)從供應(yīng)商處收到的材料至關(guān)重要。使用日立分析儀器的XRF技術(shù),根據(jù)IEC 62321方法檢驗(yàn)進(jìn)貨是否符合RoHS和ELV等法規(guī)要求,確保高可靠性涂鍍層被應(yīng)用于航空和軍事領(lǐng)域。
日立X射線鍍層測(cè)厚儀FT110A主要特點(diǎn) :
• 元素范圍Ti(22) - U(92)。
• W靶X射線管(大50 W;50 kV,1 mA)。
• 2個(gè)初級(jí)過(guò)濾器位置,可編程。
•自動(dòng)對(duì)焦功能縮短對(duì)焦時(shí)間提高檢測(cè)效率
• 微聚焦X射線管提高鍍層測(cè)量精度
• 無(wú)標(biāo)樣FP法可測(cè)度層數(shù)達(dá)到5層
• 廣域圖像系統(tǒng)一鍵定位
• 開(kāi)槽式設(shè)計(jì)針對(duì)PCB行業(yè)的測(cè)量應(yīng)用
• 雙準(zhǔn)直器,可編程:0.1和0.2 mm 直徑(4和8 mil)。
• 可選四準(zhǔn)直器,可編程:0.05、0.1和0.2 mm直徑以及
0.025×0.4 mm(2,4和8 mil直徑以及1×16 mil)。
日立臺(tái)式鍍層測(cè)厚儀售后服務(wù):
免費(fèi)上門安裝:是
保修期:1年
是否可延長(zhǎng)保修期:是
保內(nèi)維修承諾:快速及時(shí)
報(bào)修承諾:與客戶溝通后盡快到達(dá)現(xiàn)場(chǎng)
免費(fèi)儀器保養(yǎng):合同客戶每年1-2次
免費(fèi)培訓(xùn):3人次免費(fèi)培訓(xùn)
現(xiàn)場(chǎng)技術(shù)咨詢:有