第三代半導(dǎo)體IV曲線測(cè)試儀之?dāng)?shù)字源表認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表，國(guó)產(chǎn)自主研發(fā)，性價(jià)比高，測(cè)試范圍更廣，輸出電壓高達(dá)300V，支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出報(bào)告，符合大環(huán)境下國(guó)內(nèi)技術(shù)自給的需求，可及時(shí)與客戶溝通，為客戶提供高性價(jià)比系統(tǒng)解決方案，及時(shí)指導(dǎo)客戶編程，加速測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)

數(shù)字源表功能：
①集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載的功能于一身，廣泛用于各類精密器件的測(cè)量。
②四象限工作，可作為源或負(fù)載

普賽斯S型數(shù)字源表應(yīng)用：分立半導(dǎo)體器件特性測(cè)試，電阻、二極管、發(fā)光二極管、齊納二極管、PIN二極管、BJT三極管、MOSFET、SIC等；能量與效率特性測(cè)試，LED/AMOLED、太陽(yáng)能電池、電池、DC-DC轉(zhuǎn)換器等；傳感器特性測(cè)試，電阻率、霍爾效應(yīng)等；有機(jī)材料特性測(cè)試，電子墨水、印刷電子技術(shù)等；納米材料特性測(cè)試，石墨烯、納米線等；
普賽斯源表應(yīng)用方案：二極管IV測(cè)試、激光二極管LIV測(cè)試、三極管MOS管IV測(cè)試、APD管IV測(cè)試、太陽(yáng)能電池板特性參數(shù)測(cè)試、電池充放電特性參數(shù)測(cè)試、電化學(xué)循環(huán)伏安測(cè)試；
額外功能（軟件實(shí)現(xiàn)的）：二極管IV掃描及參數(shù)分析、三極管IV掃描及參數(shù)分析、LIV測(cè)試系統(tǒng)、太陽(yáng)能電池放電測(cè)試系統(tǒng)、電池充放電循環(huán)系統(tǒng)等；

S型數(shù)字源表特點(diǎn)
5寸800*480觸摸顯示屏，全圖形化操作
內(nèi)置強(qiáng)大的功能軟件，加速用戶完成測(cè)試，如LIV、PIV
源及測(cè)量的準(zhǔn)確度為0.1%，分辨率5數(shù)位
四象限工作（源和肼），源及測(cè)量范圍：高至300V，低至10pA
豐富的掃描模式，支持線性掃描、指數(shù)掃描及用戶自定義掃描
支持USB存儲(chǔ)，一鍵導(dǎo)出測(cè)試報(bào)告
支持多種通訊方式，RS-232、GPIB及以太網(wǎng)

S型數(shù)字源表技術(shù)參數(shù)
Z大輸出功率：30W，4象限源或肼模式；
源限度：電壓源：±30V（≤1A量程），±300V（≤100mA量程）；
電流源：±1.05A（≤30V量程），±105mA（≤300V量程）；
過(guò)量程： 105%量程，源和測(cè)量；
穩(wěn)定負(fù)載電容：<22nF；
寬帶噪聲(20MHz)：2mV RMS（典型值），<20mV Vp-p（典型值）；
線纜保護(hù)電壓：輸出阻抗1KΩ，輸出電壓偏移<80uV；
Z大采樣速率：1000S/s；
觸發(fā)：支持IO觸發(fā)輸入及輸出，觸發(fā)極性可配置；
輸出接口：前后面板香蕉頭插座輸出，同一時(shí)刻只能用前或者后面板接口；
通信口：RS-232、GPIB、以太網(wǎng)；
電源：AC100~240V 50/60Hz；
工作環(huán)境：25±10℃；
尺寸：106mm高 × 255mm寬 × 425mm長(zhǎng)；

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用途：
結(jié)構(gòu)：
原理：
額外功能（軟件實(shí)現(xiàn)的）：
應(yīng)用領(lǐng)域：
應(yīng)用方案
替代方案：
源表變形