詳細(xì)介紹
斷層掃描分析
METROTOM系統(tǒng)
原本不能檢測或者非常耗時的和高成本的工件檢測,現(xiàn)在可以用斷層掃描分析技術(shù)快速明確地檢測出誤差。
測量技術(shù)的革命
Metrotom融合了計量學(xué)和層析X射線攝影法,開創(chuàng)了不可預(yù)期的可能性。此前只能通過損傷工件進(jìn)行檢測或者無法進(jìn)行質(zhì)量保證檢測的場合,現(xiàn)在使用蔡司的Metrotom就可以幫忙您實現(xiàn)無損檢測并保證高精度的測量結(jié)果。
斷層掃描分析如同在工件內(nèi)部測量:所有采集的數(shù)據(jù)可用于質(zhì)量保證的范圍和進(jìn)行評估。無損檢測技術(shù),例如:裝配檢查,損傷和氣孔分析,材料檢驗或損壞檢查,如同傳統(tǒng)的測量評估,逆向工程應(yīng)用或幾何比較一樣可行。
重要特征
METROTOM采用了深思熟慮的設(shè)計,它的3D計算機斷層掃描分析帶有微聚焦X射線管和探測器,同時還裝備了用于裝夾工件的轉(zhuǎn)臺和移動系統(tǒng)。METROTOM還具有安全技術(shù),其全防護(hù)的測量間,符合DIN 54113標(biāo)準(zhǔn)的用于結(jié)構(gòu)類型許可全封閉儀器的防護(hù)射線條例(0.5mr/h外罩)。同時,它也提供了符合人體工程學(xué)的優(yōu)化設(shè)計(特設(shè)的上料位置)。
業(yè)界驗證的線性技術(shù)
- 蔡司的精密機械組件
- 導(dǎo)軌誤差補償(CAA計算機輔助精度修正)
- 蔡司原裝轉(zhuǎn)臺,配有直接驅(qū)動
- 自產(chǎn)的氣浮軸承
- 分辨率:0.036?
- 大負(fù)載(中心):500N
傳感器:微聚焦X射線管
- 高電壓:10 – 225 keV
- 電子管電流:5 – 3000 μA
- 目標(biāo)功率:320 W max.
- 反射角:50°錐角
- 速流發(fā)射角:30°錐角
- 焦點尺寸:> 7 μm平板式探測器
- 帶有高敏感性的探測系統(tǒng)
- 1024 x 1024 像素每 400 μm²用于三維CT
- 數(shù)字式放射性檢測法,低失真率