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使用粗糙度測量儀方法介紹
閱讀：193 發(fā)布時(shí)間：2020-8-19
使用粗糙度測量儀方法介紹
下面小編來講一下，使用粗糙度測量儀方法介紹
干涉法：利用光波干涉原理將被測表面的形狀誤差以干涉條紋圖形顯示出來，粗糙度測量儀并利用放大倍數(shù)高的顯微鏡將這些干涉條紋的微觀部分放大后進(jìn)行測量，以得出被測表面粗糙度。應(yīng)用此法的表面粗糙度測量工具稱為干涉顯微鏡。這種方法適用于測量Rz和Ry為0.025～0.8微米的表面粗糙度。
觸針法：利用針尖曲率半徑為2微米左右的金剛石觸針沿被測表面緩慢滑行，金剛石觸針的上下位移量由電學(xué)式長度傳感器轉(zhuǎn)換為電信號，經(jīng)放大、濾波、計(jì)算后由顯示儀表指示出表面粗糙度數(shù)值，也可用記錄器記錄被測截面輪廓曲線。一般將僅能顯示表面粗糙度數(shù)值的測量工具稱為表面粗糙度測量儀。
光切法：光線通過狹縫后形成的光帶投射到被測表面上，以它與被測表面的交線所形成的輪廓曲線來測量表面粗糙度。由光源射出的光經(jīng)聚光鏡、狹縫、物鏡1后，以45°的傾斜角將狹縫投影到被測表面，形成被測表面的截面輪廓圖形，然后通過物鏡2將此圖形放大后投射到分劃板上。利用測微目鏡和讀數(shù)鼓輪，先讀出h值，計(jì)算后得到H值。應(yīng)用此法的表面粗糙度測量工具稱為光切顯微鏡。它適用于測量RZ和Ry為0.8～100微米的表面粗糙度，需要人工取點(diǎn)，測量效率低。
以上是使用粗糙度測量儀方法介紹，詳細(xì)咨詢：（北京凱達(dá)）
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干涉法：利用光波干涉原理將被測表面的形狀誤差以干涉條紋圖形顯示出來，粗糙度測量儀并利用放大倍數(shù)高的顯微鏡將這些干涉條紋的微觀部分放大后進(jìn)行測量，以得出被測表面粗糙度。應(yīng)用此法的表面粗糙度測量工具稱為干涉顯微鏡。這種方法適用于測量Rz和Ry為0.025～0.8微米的表面粗糙度。
觸針法：利用針尖曲率半徑為2微米左右的金剛石觸針沿被測表面緩慢滑行，金剛石觸針的上下位移量由電學(xué)式長度傳感器轉(zhuǎn)換為電信號，經(jīng)放大、濾波、計(jì)算后由顯示儀表指示出表面粗糙度數(shù)值，也可用記錄器記錄被測截面輪廓曲線。一般將僅能顯示表面粗糙度數(shù)值的測量工具稱為表面粗糙度測量儀。
光切法：光線通過狹縫后形成的光帶投射到被測表面上，以它與被測表面的交線所形成的輪廓曲線來測量表面粗糙度。由光源射出的光經(jīng)聚光鏡、狹縫、物鏡1后，以45°的傾斜角將狹縫投影到被測表面，形成被測表面的截面輪廓圖形，然后通過物鏡2將此圖形放大后投射到分劃板上。利用測微目鏡和讀數(shù)鼓輪，先讀出h值，計(jì)算后得到H值。應(yīng)用此法的表面粗糙度測量工具稱為光切顯微鏡。它適用于測量RZ和Ry為0.8～100微米的表面粗糙度，需要人工取點(diǎn)，測量效率低。
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