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詳細介紹
傾斜波干涉儀可快速靈活地測量和分析非球面鏡片。
傾斜波干涉儀（MarOpto TWI 60）是一種新型且高度靈活的干涉儀，用于非球面的快速高精度測量。
第二張圖片顯示了在A5演示器非球面上測得的表面偏差（自由孔徑50 mm，擬合半徑40.8 mm，與擬合球的偏差600 µm，梯度偏差8°）。
橫向分辨率約為 30微米 在大約30秒的數(shù)據(jù)采集時間內(nèi)，非球面的整個表面以較高的橫向分辨率和較低的測量不確定度進行測量。重要的是，既不需要CGH（計算機生成的全息圖），也不需要拼接。
傾斜波干涉儀（MarOpto TWI 60）是一種新型且高度靈活的干涉儀，用于非球面的快速高精度測量。
第二張圖片顯示了在A5演示器非球面上測得的表面偏差（自由孔徑50 mm，擬合半徑40.8 mm，與擬合球的偏差600 µm，梯度偏差8°）。
橫向分辨率約為 30微米 在大約30秒的數(shù)據(jù)采集時間內(nèi)，非球面的整個表面以較高的橫向分辨率和較低的測量不確定度進行測量。重要的是，既不需要CGH（計算機生成的全息圖），也不需要拼接。
- 不使用CGH的非球面鏡片的靈活干涉測量
- 無需縫合即可進行測量
- 數(shù)據(jù)采集??時間短，大約30 s
- 光束直徑100毫米
- 與合適的球體相比允許的非球面偏差約為1.5 mm
價格面議或電聯(lián)
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