配有多種參數。評估型表面粗糙度測量儀同時配置分析功能。
? 裝置配備FORMTRACEPAK表面粗糙度/輪廓分析程序。
? 標配高分辨率的Z1軸檢出器，顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。Z1軸的顯示分辨力為0.0001μm (測量范圍為8μm時)。
? X軸驅動裝置裝配高精度玻璃光柵尺，實現X軸方向移動的高**定位。SV-3100系列為驅動裝置采用陶瓷導軌以提高抗磨性，延長使用壽命。
? X軸的分辨力為0.05μm。
? 標準或低測力檢出器(4mn/0.75mN)的選擇，無需考慮設備本體是否有裝配傾斜裝置。
注: 雖然天然石材測量桌的外觀各有不同，但材料的穩(wěn)定性是值得信賴的。
*1: 手動操作也可用。
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