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立式配置激光干涉儀應(yīng)用
閱讀：453 發(fā)布時間：2021-9-2
-立式和臥式配置 有什么不同？
-立式配置 有什么優(yōu)勢？
-何時該選擇 何種立式配置？
以水平臥式的方式，放置樣品，是菲索式激光干涉儀*常見的配置。如上圖，整個干涉腔，包括干涉儀主機，測試樣品及參考鏡，相關(guān)夾具，都放置在抗振平臺臺面上。
這樣的配置，*大的優(yōu)勢在于對不同應(yīng)用的適應(yīng)性。在臥式配置下，無論是平面還是球面樣品；表面或者透射波前的測量，都可以很快切換，除了平臺尺寸之外，幾乎沒有限制。
在某些應(yīng)用場合，基于測試效率，樣品夾持，測試方式或精度的要求，立式配置會更有優(yōu)勢。
· 工業(yè)現(xiàn)場測試環(huán)境下，立式配置下，樣品的夾持放置，更有效率，更加穩(wěn)定。
· 對于很多超高精度測量，要求樣品表面保持和工作狀態(tài)一致的條件下測量。
· 立式配置對于某些特殊應(yīng)用的特殊優(yōu)勢，比如高精度曲率半徑測量，大口徑平面樣品的拼接測量。
· 激光干涉儀在立式配置下，樣品的放置，夾持和調(diào)整更方便，提高了測試效率。
· 立式架構(gòu)整機占地更小；整個干涉腔，處于穩(wěn)定的框架結(jié)構(gòu)下，這樣對抗振要求更低，可省去昂貴和龐大的抗震平臺。
這些優(yōu)勢，都非常適合在工業(yè)現(xiàn)場，有限的空間里，高效測量的要求。平面樣品測量對腔長沒有要求，更適合于立式配置；如上圖左ZYGO平面立式系統(tǒng)，緊湊的結(jié)構(gòu)，很小的占地空間，可以以桌上系統(tǒng)的方式，高效測量。
球面樣品測試對腔長有要求，需要基于不同樣品調(diào)整。上圖中為ZYGO老型號的球面立式下視系統(tǒng)，這一配置下干涉儀主機在上，重心提高，對于抗振控制提出較高要求。
新的ZYGO立式球面測量系統(tǒng)VTS，如上圖右，采用上視配置，其重心位置更合理，抗振效果更好；同時上視系統(tǒng)夾具對球面樣品，復位性更好。
須注意立式球面與臥式配置相比，其適用性比較差，比如測長曲率半徑，大口徑凹面樣品等等時候，立式配置有局限性。立式球面配置，適合于工業(yè)定型產(chǎn)品，現(xiàn)場大批量高效測量。
· 很多超高精度的球面透鏡，其工作狀態(tài)為立式，需要在其工作狀態(tài)下測試；
· 在立式架構(gòu)下，球面樣品的支撐及夾具，對樣品形貌造成的影響更小；
· 基于立式的導軌平臺，更適合于高精度的曲率半徑測量；
超高精度的球面干涉儀，無論是測量表面形貌，還是曲率半徑，常采用立式配置。如上圖左 ZYGO 300mm立式球面激光干涉儀 VWS
· 保持和工作狀態(tài)一致，也是很多大口徑平面樣品，采用立式配置檢測的原因；
· 平面樣品更適合于采用拼接技術(shù)，以突破干涉儀本身口徑，測試更大區(qū)域。相對于臥式系統(tǒng)，立式配置更適合于拼接測量。如上圖右，ZYGO 600mm+，平面拼接激光干涉儀，就采用了立式配置。