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詳細(xì)介紹
產(chǎn)品描述
Equotip Piccolo2 在一個(gè)設(shè)備上集成了顯示裝置與沖擊裝置，遵循里氏硬度原理。可自動(dòng)識(shí)別沖擊方向和進(jìn)行自我，使得金屬硬度檢測(cè)變得非常容易。 Proceq Equotip Piccolo 2 Leeb金屬硬度測(cè)試儀是創(chuàng)造性的新型回彈硬度測(cè)試儀。Equotip Piccolo 2具有新加載和釋放機(jī)制 - 沖擊體在表面上啟動(dòng)，并在一次運(yùn)動(dòng)中加載下一個(gè)測(cè)試！Equotip Piccolo 2現(xiàn)在可以安裝DL沖擊體，使其更加通用。Proceq Equotip PICCOLO 2測(cè)量材料的里氏硬度值（HL），即回彈速度與沖擊速度之比。 然后使用存儲(chǔ)在顯示單元中的轉(zhuǎn)換表將該HL值轉(zhuǎn)換為標(biāo)準(zhǔn)硬度標(biāo)度，例如洛氏，布氏，肖氏和維氏。 因此，自從1975年開始生產(chǎn)以來(lái)，從今天開始讀取的Equotip儀器將匹配（在容差范圍內(nèi)）Equotip儀器。
測(cè)量原理
使用 Piccolo 2 測(cè)量時(shí),帶有堅(jiān)硬的金屬球壓頭的沖擊體將沖擊要測(cè)量的樣品，然后在此沖擊產(chǎn)生的彈簧能量的推動(dòng)下回彈。在沖擊前后，沖擊體中的磁體將通過(guò)一個(gè)線圈，此前后移動(dòng)將在線圈中產(chǎn)生電壓信號(hào) V。此感應(yīng)信號(hào)與沖擊體的速度成比例。回彈速度 vr 與沖擊速度 vi 之比乘以 1000 將得出硬度值 HL（里氏硬度）。HL 是硬度的直接測(cè)量值。當(dāng) HLD 指的是使用 D 型裝置（帶平面支撐環(huán)的 27 毫米長(zhǎng)沖擊體）進(jìn)行檢測(cè)，HLDL 指使用 DL 附件工具包（帶有具有纖長(zhǎng)探頭的支撐環(huán)的 82 毫米長(zhǎng)沖擊體）中的輕薄探頭進(jìn)行的檢測(cè)。
Equotip Piccolo 2 和 Bambino 2 都適用于在現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)金屬硬度，且檢測(cè)壓痕盡可能小。 可靠的設(shè)計(jì)和大顯示屏允許用戶在可見性很低的粉塵工作環(huán)境中使用。 兩種產(chǎn)品還能夠以所有常用標(biāo)度顯示金屬硬度。 Piccolo 2 功能除與 Bambino 2 相同外，還具有下列功能： Piccolo 2 和 Bambino 2 的區(qū)別 1) 用戶定義的硬度轉(zhuǎn)換 2) 具有下列應(yīng)用的 Piccolink 軟件： a) 系統(tǒng)化實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)硬度 b) 在連續(xù)生產(chǎn)過(guò)程中自動(dòng)測(cè)試 c) 評(píng)估和處理測(cè)量數(shù)據(jù) d) 遙控 Piccolo 2 設(shè)置 
| 應(yīng)用示例 | 除了Equotip Bambino 2的基本功能外，Equotip Piccolo 2 還提供： |
在已組裝好的機(jī)器或鋼和鑄鋼構(gòu)造上進(jìn)行硬度檢測(cè)。 在檢測(cè)缺口應(yīng)盡可能小的金屬工件上進(jìn)行檢測(cè)。 用于快速確定特定熱處理?xiàng)l件的質(zhì)量控制測(cè)量。 快速檢測(cè)眾多測(cè)量點(diǎn)以確定大面積表面的硬度變化。 全自動(dòng)檢測(cè)（* Piccolo 2） | 附加 Piccolink PC 軟件以記錄檢測(cè)結(jié)果，包括統(tǒng)計(jì)信息 可使用客戶自定義的硬度轉(zhuǎn)換方式檢測(cè)特殊材料 可轉(zhuǎn)換為鋼的抗拉強(qiáng)度 (Rm) 擴(kuò)展的統(tǒng)計(jì)功能和可防止意外更改設(shè)置的儀器鎖定功能 固定沖擊數(shù)，可配置每個(gè)檢測(cè)序列的沖擊數(shù) （實(shí)時(shí)）通過(guò) USB 接口將數(shù)據(jù)傳輸?shù)?PC 或筆記本電腦，這是連續(xù)生產(chǎn)過(guò)程所必要的 |
DL 附件工具包
Equotip Piccolo 2 和 Bambino 2 附帶有 D 型沖擊裝置。此沖擊裝置可與可選的 DL 沖擊裝置互換，對(duì)于受限區(qū)域中的測(cè)量非常有用。
Equotip Piccolo 2 可與沖擊體 D（標(biāo)準(zhǔn)）或沖擊體 DL（作為附件提供）一起使用：
D 探頭（27 毫米長(zhǎng)的沖擊體）通常用于大多數(shù)里氏回彈檢測(cè)，通常稱為“適用于多數(shù)應(yīng)用的通用 探頭"。
DL 輕薄探頭（82 毫米長(zhǎng)的沖擊體）因其外形小巧，一般用于在有限空間和凹面中進(jìn)行檢測(cè)。
帶有 Equotip DL 附件工具包的 Equotip Piccolo 2 / Bambino 2 只能用于：在空間有限的區(qū)域和凹面上進(jìn)行檢測(cè)
技術(shù)規(guī)格 | ||
使用 D 型沖擊裝置 | 使用 DL型沖擊裝置 | |
測(cè)量范圍 | 150-950 HLD | 250-970 HLDL |
尺寸 | 147.5 x 44 x 20 毫米（55.71 x 1.75 x 0.79英寸） | 203 x 44 x 20 毫米（7.99 x 1.75 x 0.79 英寸） |
儀器重量 | 142 克（5 盎司） | 152 克（5.4 盎司） |
轉(zhuǎn)換 |
80-955 HV、81-678 HB、20-70 HRC、38-102 HRB、30-100 HS （* Equotip Piccolo 2：274-2193 N/mm2）
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分辨率 | 1 HLD / HLDL、1 HV、1 HB；0.1 HRC、0.1 HRB、0.1 HS（* Equotip Piccolo 2：1 N/mm2 Rm） | |
測(cè)量精度 | ± 4 HLD / HLDL（800 HLD / HLDL 時(shí)為 0.5%） | |
*大檢測(cè)硬度 | 890 HLD (955 HV, 68 HRC) | |
沖擊方向 / 能量 | 自動(dòng)補(bǔ)償 / 11 Nmm | |
球壓頭 | 碳化鎢（約 1’500 HV），~ 3 毫米（0.12 英寸） | |
外殼 | 防刮硬質(zhì)鋅合金 | |
電池 | 可充電鋰電池，能夠執(zhí)行 2 萬(wàn)多次沖擊，充電電流 100 mA | |
集成存儲(chǔ)器 | 非易失性 RAM，32 kB，可存儲(chǔ)約 2000 個(gè)測(cè)量值（* Equotip Piccolo 2） | |
操作條件 | 溫度：-10 至 +60 °C（14 至 140 °F）；濕度：*高 90% | |
訂貨信息：
| 352 10 002 | Equotip Piccolo 2 硬度檢測(cè)儀 D 型，配有 Proceq 測(cè)試塊 D Equotip Piccolo 2 儀器，配有 D 型沖擊體、大 (D6) 小 (D6a) 支撐環(huán)、清潔刷、USB 充電器和電纜、便攜箱、Proceq 頸帶/腕帶（吊繩）、Equotip 產(chǎn)品 CD（包括操作說(shuō)明和固件升級(jí)說(shuō)明）、產(chǎn)品證書 Piccolink 軟件 以及帶有證書的 Equotip 測(cè)試塊 D/DC 且經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (~775HLD/~630HV/~56HRC) |
| 352 20 002 | Equotip Bambino 2 硬度檢測(cè)儀 D 型，配有 Proceq 測(cè)試塊 D Equotip Bambino 2 儀器，配有 D 型沖擊體、大 (D6) 小 (D6a) 支撐環(huán)、清潔刷、USB 充電器和電纜、便攜箱、Proceq 頸帶/腕帶（吊繩）、Equotip 產(chǎn)品 CD（包括操作說(shuō)明和固件升級(jí)說(shuō)明）、產(chǎn)品證書 以及帶有證書的 Equotip 測(cè)試塊 D/DC 且經(jīng) Proceq 校準(zhǔn) (~775HLD/~630HV/~56HRC) |
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