產(chǎn)品描述

X-Strata920
快速可靠的X射線熒光鍍層厚度測量及材料分析，低成本、高效率!速，精確的分析:大面積正比計數(shù)探測器和牛津儀器50瓦微聚焦X射線光管(X射線光束強度大，斑點小，樣品激發(fā)佳）相結(jié)合，提供z佳靈敏度

牛津儀器-值得您信賴的品牌!
●從研發(fā)、生產(chǎn)、銷售到服務(wù)，牛津儀器公司在鍍層厚度測量和成份分析領(lǐng)域中擁有20多年豐富經(jīng)驗，為客戶提供可靠性高、成本低且效率高的解決方案
●我們已經(jīng)在世界各地銷告超過3000臺的臺式X射線熒光鍍層測厚儀

			X射線熒光(XRF)方法 X射線熒光(XRF)儀器的工作原理是對被測樣品發(fā)射一-東一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。 X射線熒光分析的優(yōu)點： ●z少或無需樣品制備 ●無損分析 ●可測元素范圍廣: Tito U92 ●可分析固體和溶液 ●分析快速: 幾秒內(nèi)得到結(jié)果 ●定性、半定量和全定量分析 ●操作容易，只需要簡單培訓 ● X射線熒光標準檢測方法，規(guī)格和操作指導通用，可提高產(chǎn)品質(zhì)量、 安全性，便于市場準入和貿(mào)易，增強客戶信心。例如: X-Strata920符合: 一ASTM B568: X射線光譜儀測量鍍層厚度的標準測試方法 一ISO 3497:金屬鍍層- -X射線光譜法測量鍍層厚度
	電子行業(yè) 電子、電氣原件 有效控制生產(chǎn)過程，提高生產(chǎn)力 ●確保元件可靠性 -同時測量焊料合金成份和鍍層 厚度 ●優(yōu)化質(zhì)量控制，確保產(chǎn)品生命期 例如: 一分析導電性鍍層金和鈀的厚度 一測量電腦硬盤上的NiP層厚度

五金電鍍行業(yè) 五金電鍍 電鍍處理的成本z小化，產(chǎn)量z大化 ●快速簡單的分析 一同時進行單層或多層鍍層厚度 ●測量及成份分析 一*多可分析4層鍍層 一鍍液成份分析		金屬合金行業(yè) 金屬合金成份分析和牌號認定 珠寶及其他合金的快速無損分析 ●貴金屬合金分析 ●純度分析 ●材料鑒定

X-Strata920高性能的X射線熒光光譜儀
●快速，精確的分析:大面積正比計數(shù)探測器和牛津儀器50瓦微聚焦X射線光管(X射線光束強度大，斑點小，樣品激發(fā)佳）相結(jié)合，提供z佳靈敏度
●簡單的元素區(qū)分:通過次級射線濾波器分離元素的重疊光譜
●性能優(yōu)化，可分析的元素范圍大

X-Strata920堅固耐用的設(shè)計: ●可在實驗室或生產(chǎn)線上操作 ●堅固的工業(yè)設(shè)計 簡單的校準步驟： ●當沒有校準樣品時， 基本參數(shù)法(FP)提供了簡單可靠的定量分析結(jié)果 ●經(jīng)驗系數(shù)校準法提供了z佳的準確性和結(jié)果可溯性，且只需少量標準樣品 ●方法建立只需要幾分鐘 ●牛津儀器提供認證標準樣品(A2LA和ISO/EC 17025認證)，確保準確性 X-Strata920預置800多種容易選擇的應用參數(shù)/方法： 的*穩(wěn)定性 : ●自動熱補償功能測量儀器溫度變化并做修正，確保穩(wěn)定的測試結(jié)果 ●例行進行簡單快速的波譜校準，可自動檢查儀器性能(例如靈敏性)并進行必要的修正 X-Strata920避免不同操作的結(jié)果偏差 鐳射聚焦： ●簡單的“定點 按鍵"操作將樣品聚焦 ●固定焦距高度: 0.5" (12.7 mm) . X-Strata920可分析不同形狀和尺寸的樣品

X-Strata920三種配置選項

以滿足您的分析需求

加深樣品臺 ●高度每半英寸(12.7mm) 可調(diào)，架構(gòu)式樣品艙可容 納*大高度6.3"(160mm) 的樣品

固定樣品臺 ●樣品臺位置固定 ●經(jīng)濟、實用 ●平面樣品臺設(shè)計，適合高 度不超過1.3"(33mm)的樣 品分析

程控樣品臺 用于自動化測量 ●方便根據(jù)測試位置放置樣品， 并精準定位測量點 樣品臺尺寸: 22"(D) x 24"(w), 即560mm (深) x 610mm (寬) ●程控臺移動距離: 7"x7", 即178mmx 178mm

*的系統(tǒng)安全性 ●為日常操作員設(shè)定簡單的、功能受限的 用戶界面 ●管理員級別可進入系統(tǒng)進行維護 ●系統(tǒng)使用由操作者登錄 ●自動鎖定功能防止未*的操作

結(jié)果輸出 ●結(jié)果可導出 至Excel表格或報告 ●生成自定義 ●用戶可自定義統(tǒng)計分析格式 ●包括統(tǒng)計分析數(shù)據(jù) ●獲取樣品圖象到報告中