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如何選擇合適的探測系統(tǒng)
閱讀:291 發(fā)布時間:2020-8-7【如何選擇合適的探測系統(tǒng)】為測量任務(wù)選擇合適的探測系統(tǒng)并不總是一件容易的事。為獲得有效的投資回報,的方式是從確定工件所需的應(yīng)用、靈活性和測量范圍開始。
1. 測頭的選擇:
選擇測頭要考慮以下幾點(diǎn):
◆ 在可以應(yīng)用接觸式測頭的情況下,慎選非接觸式測頭;
◆ 在只測尺寸、位置要素的情況下盡量選接觸式觸發(fā)測頭;
◆ 考慮成本又能滿足要求的情況下,盡量選接觸式觸發(fā)測頭;
◆ 對形狀及輪廓精度要求較高的情況下選用掃描測頭;
◆ 掃描測頭應(yīng)當(dāng)可以對離散點(diǎn)進(jìn)行測量;考慮掃描測頭與觸發(fā)測頭的互換性(一般用通用測座來達(dá)到);
◆ 易變形零件、精度不高零件、要求超大量數(shù)據(jù)零件的測量,可以考慮采用非接觸式測頭;
◆ 要考慮軟件、附加硬件(如測頭控制器、電纜)的配套。
2. 不同測頭適用的場合
◆ 觸發(fā)測頭:當(dāng)零件所被關(guān)注的是尺寸,間距或位置,而并不強(qiáng)調(diào)其形狀誤差,而注意力主要放在尺寸和位置精度時,接觸式觸發(fā)測量是合適的,特別是對于離散點(diǎn)的測量。 觸發(fā)式測頭測尺寸、間距或位置比掃描測頭快,觸發(fā)測頭體積較小,當(dāng)測量空間狹窄時測頭易于接近零件。 一般來講觸發(fā)式測頭使用及維修成本較低;因此,接觸式觸發(fā)測頭依然是坐標(biāo)測量的主流。
◆ 觸發(fā)測頭的優(yōu)勢及劣勢
優(yōu)勢:
1、適于空間箱體類工件及巳知表面的測量;
2、通用性強(qiáng),采購及運(yùn)行成本低;
3、有多種不同類型的觸發(fā)測頭及附件供采用;
4、適用于尺寸測量及在線應(yīng)用;
5、堅固耐用;
6、體積小,易于在窄小空間應(yīng)用;
7、由于測點(diǎn)時測量機(jī)處于勻速直線低速狀態(tài),測量機(jī)的動態(tài)性能對測量精度影響較小;
劣勢:測量取點(diǎn)率低。
◆ 掃描測頭:應(yīng)用于有形狀要求的零件和輪廓的測量:掃描方式測量的主要優(yōu)點(diǎn)在于能高速的采集數(shù)據(jù),這些數(shù)據(jù)不僅可以用來確定零件的尺寸及位置,更重要的是能用眾多的點(diǎn)來精確的描述形狀、輪廓,這特別適用于對形狀、輪廓有嚴(yán)格要求的零件,該零件形狀直接影響零件的性能(如葉片、橢圓活塞等);也適用于你不能確信你所用的加工設(shè)備能加工出形狀足夠好的零件,而形狀誤差成為主要問題時的情況。
高精度測量:由于掃描測頭對離散點(diǎn)測量是勻速或恒測力采點(diǎn),其測點(diǎn)精度可以更高。
同時,掃描測頭可以直接判斷接觸點(diǎn)的法矢,對于要求嚴(yán)格定位、定向測量的場合,掃描測頭對離散點(diǎn)的測量也具有優(yōu)勢。
對于未知曲面的掃描,亦即稱為數(shù)字化的場合下,掃描測頭顯示出了它的*優(yōu)勢:因為數(shù)字化工作方式時,需要大量的點(diǎn),觸發(fā)式測頭的采點(diǎn)方式顯得太慢;由于是未知曲面,測量機(jī)運(yùn)動的控制方式亦不一樣,即在“探索方式"下工作;測量機(jī)根據(jù)巳運(yùn)動的軌跡來計算下一步運(yùn)動的軌跡、計算采點(diǎn)密度等。
◆ 掃描測頭的優(yōu)勢及劣勢
優(yōu)勢:
1)適于形狀及輪廓測量;
2)高的采點(diǎn)率;
3)高密度采點(diǎn)保證了良好的重復(fù)性、再現(xiàn)性;
4)更高級的數(shù)據(jù)處理能力;
劣勢:
1)比觸發(fā)測頭復(fù)雜;
2)對離散點(diǎn)的測量較觸發(fā)測頭為慢;
3)高速掃描時由于加速度而引起的動態(tài)誤差很大,不可忽略,必須加以補(bǔ)償;
4)針尖的磨損必須注意;
5)價格昂貴,使用成本非常高;
◆ 非接觸式測頭:非接觸測頭沒有測量力,適于柔軟物體;非接觸式測頭取樣率高,在50 次/秒到23000 次/秒之間,適于表面形狀復(fù)雜,精度要求不特別高的未知曲面,例如汽車、家電的木模、泥模等。但非接觸測頭由于受物體表面特性(顏色、光度、粗糙度、形狀等)的影響較大,目前在大多數(shù)情況下,示值誤差比接觸式測頭要大,保持在10 微米級以上。同時,非接觸測頭的價格一般較貴。
選用非接觸式測頭的原則是:易變形零件、精度不高零件、要求超大量數(shù)據(jù)零件的測量,可以考慮采用非接觸式測頭;要考慮軟件、附加硬件(如測頭控制器、電纜)的配套。