特點：

自動組件識別技術(shù)值得信賴

自動組件識別（Automatic Component Recognition ACR）技術(shù)，使您方便的使用顯微鏡設(shè)置。所有電動主機架能夠自動識別物鏡。此外，ACR 技術(shù)還能在全電動 Z 系列主機中識別反射光模塊。系統(tǒng)能自動對組件的變換進行登記。

無振動設(shè)計確保可靠的長時間成像

借助 Axio Imager 出色的穩(wěn)定性得以實現(xiàn)可隨時間變化的測量和高放大倍率觀察。物鏡轉(zhuǎn)盤、z 軸升降臺和載物臺被設(shè)計為一個緊湊式無振動單元，獨立于主機架的其余部分。這種所謂的 "stable cell" 結(jié)構(gòu)設(shè)計能夠創(chuàng)建理想的測量條件，以獲得超高質(zhì)量的觀測結(jié)果。

擴展功能令操作更舒適

簡化復(fù)雜程序。通過主機架或外置工作站上的觸摸屏來控制全部電動化組件。

保存?zhèn)€性化設(shè)置并實現(xiàn)一鍵還原。聚焦操作方便直觀 – 符合人體工程學(xué)設(shè)計的觸控式按鈕。

或者通過任意擺放的控制面板（可*與主機架分離）來操作偏光顯微系統(tǒng)。觀察方式和光路管理器能夠自動選擇合適的設(shè)置，以生成可重現(xiàn)且可靠的觀測結(jié)果。

方法：

錐光觀察技術(shù)：使用偏光顯微鏡可以實現(xiàn)快速可靠的晶體結(jié)構(gòu)分析

偏光顯微鏡能夠同時采集無畸變的和錐光的圖像信息。采用特殊設(shè)計的偏光鏡筒通過輔助中間像平面可以使物體、十字準線和可變光闌同時可見。通過調(diào)節(jié)型可變光闌能夠?qū)㈠F光觀測范圍縮小至.小 10μm 的晶體粒度。已對中的 Bertrand 光路方便開關(guān)。這一特性讓您在不同技術(shù)之間進行快速切換 – 甚至在采集圖像或使用視頻設(shè)備時。

始終如一的測量性能

• 借助可 360° 刻度和 0.1° 的游標尺的旋轉(zhuǎn)、球軸安裝式載物臺可以輕松實現(xiàn)測量，（例如：用于測量礦物的解理角）
• 光程差測定或應(yīng)變測量
• 大量光譜補償器可選，涵蓋從 0 至 30 λ 的測量范圍。

固定光程差的補償器

• 全波片 λ
• 四分之一波片 λ / 4
• 全波片 λ，可旋轉(zhuǎn)角度 +/- 8°

具有可變光程差的補償器

• 光楔補償器 0-4 λ
• 測量補償器
• - Berek 傾斜補償器 0-5 λ
• - Berek 傾斜補償器 0-30 λ

Axio Imager 還可提供更多方法，例如：

• 熱顯微技術(shù)
• 使用蔡司 AxioVision 軟件進行數(shù)字分析（例如：晶粒度分析或顆粒度分析）