詳細介紹
包含測量臺的緊湊型設計。 - 傳感器配有根據阿貝原理的同軸測量系統(tǒng)或相對于測高儀軸使用偏移探頭。 測量具有扁平,平行或圓柱形表面的幾何元素上的內部,外部,高度,深度,步距和距離尺寸。 - 自動檢測孔或軸上的頂點。 - 使用記憶功能“.大”,“.小”和“.大.小”進行動態(tài)探測。 根據所選擇的工具配置,整個系統(tǒng)提供了測量直線度,平直度和平行度或檢查軸向和徑向跳動的.佳解決方案。
• 控制面板
- 可防護液體和灰塵的侵害
- 1D改進的面板,易于操作且不會混淆
- 兼容2D面板,用于訪問超越在1D模式下簡單測量的功能
• 測量
- 適合在生產線旁測量小零件
- 高精度
- 低的可調觸發(fā)力,可測量更廣泛的材料
- 清晰的結果能減少因顯示結果不正確理解導致錯誤的可能性
• 立柱
- 所需空間.小化,緊湊化測量接近生產線
• SCS 校準證書
- 免費附帶的SCS校準證書節(jié)省了初始購買后的額外重新校準的成本
• 控制面板
- 可防護液體和灰塵的侵害
- 1D改進的面板,易于操作且不會混淆
- 兼容2D面板,用于訪問超越在1D模式下簡單測量的功能
• 測量
- 適合在生產線旁測量小零件
- 高精度
- 低的可調觸發(fā)力,可測量更廣泛的材料
- 清晰的結果能減少因顯示結果不正確理解導致錯誤的可能性
• 立柱
- 所需空間.小化,緊湊化測量接近生產線
• SCS 校準證書
- 免費附帶的SCS校準證書節(jié)省了初始購買后的額外重新校準的成本
|
不改變探測方向的測量
無需測頭常數
無需測頭常數
不改變探測方向的測量
無需測頭常數
無需測頭常數
改變探測方向的測量
需測頭常數
不考慮拐點測量
需測頭常數
不考慮拐點測量
改變探測方向的測量
需測頭常數
考慮拐點測量
需測頭常數
考慮拐點測量