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詳細介紹
LK-5800TC Type-C數(shù)據線綜合測試儀研發(fā)背景簡介：
2015年CES大展上，Intel聯(lián)合USB實施者論壇向公眾展示了USB 3.1的威力，具體搭配的接口是USB Type-C，能夠
正反隨便插，大小也與micro-USB相差無幾。理論上，USB 3.0 Type C的傳輸速度能夠達到10Gbps。
Type-C是USB接口的一種連接介面，不分正反兩面均可插入，大小約為8.3mm×2.5mm，和其他介面一樣支持USB標
準的充電、數(shù)據傳輸、顯示輸出等功能。Type-C由USB Implementers Forum制定，在2014年獲得蘋果、、英特爾
微軟等廠商支持后開始普及。
隨著Type-C接口的普及，對Type-C數(shù)據線的需求日益增多，我們適時推出這款的測試儀器，用于產品量產檢
測用以幫助廣大廠商提高生產效率，控制好產品質量。
產品特點 PRODUCT FEATURE
采用技術及國內多項自主
可作線材單邊、標準、多段和點測功能測試
導通電阻可單獨分組設定，單邊可點測導通電阻
點測可對單根線靈敏度值及顏色分別設定
電容大可測 500μF，可測電容量及電容正負
短路、斷路不良分邊精準無誤
可對Type-C數(shù)據線不分正反快速準確測試
系統(tǒng)整體測試速度較傳統(tǒng)同類產品提升一倍
提供*的 USB 及 RS232 接口,并可與 PC 聯(lián)機操作(定制)
特殊材料與制造工藝，絕緣受潮濕空氣影響較小
系統(tǒng)提供統(tǒng)計報表及列印功能
自主軟硬體設計，可視客戶要求個性化定制其他功能
技術規(guī)格 SPECIFICATION
測 量 時 間 Test time | |
斷/短路 Open/short | 快速(4ms/次/64點),慢速(8ms/次/64點) |
導通電阻 Cond | 快速55次/秒,中速45次/秒,慢速30次/秒0.2s/32net(標準)參考 |
絕緣電阻Insulation resistance | 一對其它3.6s/64net(0.01s) 二分快速0.4s/64net(0.01s) 0.01秒～60秒可選擇設定 |
交流高壓AC High Voltage | 一對其它9.5s/64net(0.01s) 二分快速0.9s/64net(0.01s) 0.01秒～60秒可選擇設定 |
瞬間/高速短斷路 INT Time | 0秒～99秒 設0秒表示無* |
測 試 參 數(shù) Test parameters | ||
項 目Project | 符號Symbol | 測試范圍Test range |
斷/短路 | O/S | 1KΩ~100KΩ |
導通電阻測試 | COND | 1mΩ~50Ω |
電阻量測 | R | 0.1Ω~10MΩ |
電容量測 | C | 10pF~1000μF |
二管量測 | D | 0.0V~7.0V |
絕緣阻抗 | I.S | 0.1MΩ~1000MΩ |
直流漏電流 | IL | 1μA~1000μA |
高壓漏電流 | IL | 0.01mA~5mA |
瞬間導通阻抗 | INT.COND | 1mΩ~50Ω |
快速瞬斷 | INT.OPEN | 0.4ms |
瞬間短斷路 | INT.O/S | 2ms/64pin靈敏度 |
規(guī) 格 說 明 Specifications | |
測試掃描模式 Scan Mode | 自動/手動/連續(xù)/外部掃描可切換 |
顯示/聲警裝置Waming device | Pass/Fail LED紅綠指示燈/畫面顯示/聲警320*240LCD液晶顯示器，藍/白底可切換 |
存儲裝置 | 內建512KB SRAM,可擴充1024KB |
尺寸 Size | (W×D×H)425×190×350mm |
重量 Weight | 約14kg(不含配件) |
選 購 指 南 Selection Guide | ||
產品型號 Product Type | 量測點數(shù) Test Points | 量測電壓 Test Voltage |
LK-5810N | 64pin | DC:5~1000V |
LK-5810N2 | 128 pin | DC:5~1000V |
LK-5810NA | 64 pin | DC:5~1000V,AC:100~800V |
LK-5810NA2 | 128 pin | DC:5~1000V,AC:100~800V |
LK-5810FA | 64 pin | DC:5~1500V,AC:100~1000V |
LK-5810FA2 | 128 pin | DC:5~1500V,AC:100~1000V |
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