具有環(huán)境功能的掃描電鏡，適用于工業(yè)研究和開發(fā)

環(huán)境掃描電鏡

Thermo Scientific Prisma E SEM掃描電鏡結(jié)合了廣泛的成像和分析模式以及*自動化功能，和同類儀器相比，可提供最完整的掃描電鏡分析解決方案。對于工業(yè)研發(fā)、質(zhì)量控制和失效分析應(yīng)用領(lǐng)域，需要一臺具有高分辨成像，廣泛的樣品兼容性，簡單易用的用戶界面的掃描電鏡，Prisma E環(huán)境掃描電鏡是這類應(yīng)用的理想選擇。Prisma E環(huán)境掃描電鏡是在前代Quanta SEM掃描電鏡基礎(chǔ)上的又一次成功實踐。

強大的附近擴展能力，以及結(jié)合Thermo Scientific ChemiSEM 技術(shù)所實現(xiàn)直觀的元素分析能力，使Prisma E在任何行業(yè)或領(lǐng)域都能夠?qū)崿F(xiàn)微米/亞微米級成像和分析。

Prisma E環(huán)境掃描電鏡的主要特點

觸手可及的元素信息

通過選配 ChemiSEM 技術(shù)和集成能量色散 X 射線光譜(EDS)進行實時成分面分布以實現(xiàn)直觀元素分析。這種始終在線的分析能力可很大提高您的工作效率，并獲取完整的樣品信息。

大限度地減少樣品制備時間

低真空和ESEM環(huán)境掃描電鏡功能可對非導(dǎo)電和/或含水樣品進行無電荷/或無脫水成像和分析。

優(yōu)異的分析能力

倉室支持至多安裝3 個 EDS 探測器，其中兩個EDS接口呈180°對稱，并可安裝波長色散光譜 (WDS)、共面 EDS/EBSD，并可在低真空模式下實現(xiàn)高質(zhì)量無電荷 EDS 和 EBSD 分析。

優(yōu)秀的圖像質(zhì)量

靈活的真空模式以及通過透鏡抽真空技術(shù)，使Prisma E環(huán)境掃描電鏡可在低電壓和低真空下獲得優(yōu)秀的圖像質(zhì)量。且在每個操作模式下，都可實現(xiàn)二級電子 (SE) 和背散射電子 (BSE) 同時成像。

對自然狀態(tài)下的材料進行原位研究

憑借 Prisma E的環(huán)境掃描電鏡 (ESEM) 模式、可在樣品加熱、放氣或潮濕的狀態(tài)下直接成像。

易于使用

Prisma E環(huán)境掃描電鏡相關(guān)操作軟件具有用戶指南和撤消功能，可以使新手用戶進行操作，也可很大減少專家級用戶的操作負荷。