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Xradia Versa蔡司3D X-ray（X射線）
蔡司X射線斷層掃描解決方案
高分辨率Xradia Versa蔡司3D X-ray（X射線）和計(jì)算機(jī)斷層掃描
- 無損地表征材料的特性和行為。
- 從三個(gè)維度（3D）揭示微觀結(jié)構(gòu)的細(xì)節(jié)。
- 開發(fā)并確認(rèn)模型或可視化結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)。
- 即使是相對(duì)較大的樣品，也可以實(shí)現(xiàn)高對(duì)比度和亞微米分辨率的成像。
詳細(xì)介紹
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產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品編號(hào): Xradia Versa所屬品牌: 蔡司ZEISS產(chǎn)品型號(hào): Xradia Versa 額定功率：按實(shí)際方案提供所屬類別: 蔡司ZEISS所屬用途: 無損檢測NDT應(yīng)用領(lǐng)域: 金屬產(chǎn)品特性: Xradia Versa蔡司3D X-ray（X射線）亞微米XRM系列以提高各種樣品類型和大小的放大倍率，并將空間分辨率降低至500 nm，同時(shí)可實(shí)現(xiàn)的較小體素<40 nm。下載相關(guān)資料 -
Xradia Ultra
Xradia Ultra系列納 米X射線顯微鏡是僅有使用同步加速器質(zhì)量X射線光學(xué)器件并提供低至<50 nm的真實(shí)空間分辨率和較小可實(shí)現(xiàn)的16nm體素的市售X射線顯微鏡。
Xradia Context microCT
蔡司Xradia Context是一種大型視野，無損3D X射線微計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，具有強(qiáng)大的平臺(tái)和靈活的軟件控制源/檢測器定位。
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