寶石顯微鏡 適合珠寶店鑒定、教學用、鑒定愛好者，寶石顯微的寶石鑒定儀器，在珠寶鑒定中用于觀察樣品的內(nèi)含物和表面特征等肉眼無法觀察的現(xiàn)象，是合成品、優(yōu)化處理品和人造品的鑒定*的寶石鑒定儀器。

顯微鏡的主要用途：

檢查寶石表面特征：寶石的生長紋、蝕像、劃痕、破損、對稱性、拼合面（氣泡、光澤差異）等

觀察寶石內(nèi)部特征：內(nèi)含物的種類、形態(tài)、數(shù)量、雙晶面、生長紋、顏色分布特點、初始解理、缺陷等

觀察寶石刻面棱重影：雙折射率大的寶石，如鋯石（DR=0.059）、橄欖石（DR=0.036）電氣石（DR=0.078） 等寶石的刻面棱重影現(xiàn)象

近視折射率的測定：使用貝克線法、柏拉圖法或直接測量法，對折射率值超過折射儀測量范圍的寶石，進行近視折射率值的測試

吸收光譜的觀察：以分光鏡代替鏡，并使用透射照明來檢測寶石的光譜特征

偏光檢測：添加上下偏振片檢查寶石的消光情況和進行多色性觀察干涉圖觀察：使上下偏振片正交，用物臺下的聚光鏡提供的收斂光或加錐光鏡，可檢查寶石的干涉圖，進行寶石軸性分析

顯微照相：在目鏡上裝一照相機，可直接拍下寶石中所觀測到的現(xiàn)象，以提供一性照相記錄

其他用途：利用旋轉(zhuǎn)臺或分度臺進行寶石晶面夾角測量等

技術參數(shù)