高低溫加載測試設(shè)備/高低溫試驗箱那個好？可程式控制器的主要功能：

1、5.7寸彩色液晶觸摸顯示屏，中英文操作畫面任意選擇，觸控式屏幕面板，操作簡單，美觀大方，程序編輯容易。

2、zui大具有120組可編定的程序容量，每組可記憶100段溫度自行操作。

3、具有多項擴(kuò)充功能，控制器可經(jīng)由RS/232或RS/485接口與計算機(jī)聯(lián)機(jī)，也可定制USB導(dǎo)出數(shù)據(jù)，可連接打印機(jī)打印高低溫度曲線監(jiān)控數(shù)據(jù)。

4、可顯示完整的系統(tǒng)操作狀況、實時顯示執(zhí)行及設(shè)定程序曲線。

5、故障報警，并顯示排除故障的方法。

6、采用*的微處理器芯片，可靠性高，抗*力強(qiáng)。

 高低溫加載測試設(shè)備/高低溫試驗箱那個好？執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法；

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法；

GB/T 2423.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗N 溫度變化試驗方法；

GB/T10592-2008《高、低溫試驗箱技術(shù)條件》；

GB/T 10589-2008《低溫試驗箱技術(shù)條件》；。

IEC 68-2-1-1990 中文名稱: 基本環(huán)境試驗規(guī)程.第2部分:第1節(jié).試驗.試驗A:低溫試驗

EC68-2-14_試驗方法N_溫度變化

 型號規(guī)格參數(shù)如下:

型號AP-GD-80  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 400×500×400㎜   外箱尺寸：970×1360×970㎜

型號AP-GD-150  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×600×500 ㎜   外箱尺寸：1070×1460×1070㎜

型號AP-GD-225  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 500×750×600 ㎜   外箱尺寸：1070×1610×1170㎜

型號AP-GD-408  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 600×850×800 ㎜   外箱尺寸：1170×1710×1270㎜

型號AP-GD-800  內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×800 ㎜ 外箱尺寸：1550×1840×1290㎜

型號AP-GD-1000 內(nèi)箱尺寸:W×H×D 1000×1000×1000㎜ 外箱尺寸：1550×1840×1470 ㎜

溫度范圍： －70℃～+150℃(可只選擇-40℃～+150℃；-20℃～+150℃；0℃～+150℃；)  

溫度波動度：±0.5℃

溫度解析精度：0.01℃

溫度控制精度：±0.2℃

升溫/降溫時間：3.0℃/分鐘；1.0℃/分鐘(此升降溫速率是根據(jù)國家標(biāo)準(zhǔn)要求的，要定制快速升降溫的顧客請下單時跟愛佩業(yè)務(wù)員說明，謝謝）

電源：3φ5 380V AC±10%  50/60HZ或1φ3 220V AC±10%  50/60HZ（根據(jù)功率大小而配置）