半導體溫度沖擊老化試驗箱用來測試材料結(jié)構(gòu)或復合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在zui短時間內(nèi)試驗其熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。我司生產(chǎn)的冷熱沖擊試驗機質(zhì)量好，價格優(yōu)，免費保養(yǎng)，歡迎采購。

設(shè)備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設(shè)備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設(shè)計- 確保了設(shè)備的高可靠性；、

半導體 溫度沖擊老化試驗箱

產(chǎn)品用途

該產(chǎn)品適用于電子元氣件的安全性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等，同時通過此裝備試驗，可提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。高低溫沖擊試驗箱是汽車、家電、科研等領(lǐng)域*的測試設(shè)備，考核和確定電工、電子、汽車電器、半導體、材料等產(chǎn)品，在進行高低溫試驗的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能，使用的適應(yīng)性，適用于學校，工廠，研位，等單位.

半導體溫度沖擊老化試驗箱機械鈑金結(jié)構(gòu)

全部功能采用計算機控制，系自主開發(fā)的軟件，有良好的操作界面，使用戶的操作和監(jiān)測都更加簡單和直觀，保持功能可以使你正在運行的程序保持在目前的狀態(tài)下，可以臨時更改此程序段的數(shù)值，可以在屏幕上設(shè)置時間和參數(shù)，使制冷、加熱、提藍傳送切換，按設(shè)定值自動進行。

冷箱、熱箱獨立控制，箱門互相獨立，擴大試驗箱的使用范圍（一箱三用）。

產(chǎn)品保溫效果可以得到充分保證。

試驗箱門與循環(huán)風機，提藍傳動等互鎖，保護操作者的安全，一旦打開箱門，循環(huán)風機和提藍傳動的電源會被自動切斷。

在箱頂有標準引線孔管，方便用戶向箱內(nèi)引入傳感器線，檢測電纜等類型引線。

控制系統(tǒng)

低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時間小于等于15秒。

溫度恢復時間小于等于5分鐘。

半導體 溫度沖擊老化試驗箱

規(guī)范要求：

a.采用鋁片驗證機臺負載能力（非塑料負載）
b.傳感器放置測試區(qū)而非風道口符合實驗有效性
a.進行兩箱沖擊時測試區(qū)濕度符合規(guī)范要求
b.可擴充待測品表面溫度控制駐留時間來縮短試驗時間
c.可直接多項規(guī)范與試驗條件