自適應(yīng)照明設(shè)置

能夠?qū)崿F(xiàn)在不同觀察方法之間的輕松切換：選擇一個(gè)特定的觀察模式，不到一秒鐘，所有元件均將轉(zhuǎn)移至光路中。此外，顯微鏡將自動(dòng)修改照明設(shè)置、亮度以及光闌位置，使之適用于該觀察模式。此外，Leica DM6 M 將自動(dòng)調(diào)節(jié)齊焦性。無(wú)需耗費(fèi)時(shí)間調(diào)節(jié)——輕松讓系統(tǒng)為您效勞。這種超級(jí)簡(jiǎn)便的操作模式，能夠確保無(wú)論是誰(shuí)在操作顯微鏡，都能夠避免出錯(cuò)，且確保**的可再現(xiàn)性。

易于對(duì)反光表面進(jìn)行聚焦

一般情況下,像晶圓或鋁合金等這類材質(zhì),經(jīng)過(guò)打磨的,反光和非結(jié)構(gòu)表面 是很難聚焦的.利用徠卡的尋焦器,能夠確保樣本易于成像,并在上述表面聚 焦,同時(shí)不存在損壞樣本或物鏡的風(fēng)險(xiǎn).

所有設(shè)置,一目了然

Leica DM4 M 顯示屏布局清晰,顯微鏡和照相機(jī)的所有當(dāng) 前設(shè)置都可以在顯示屏中一覽無(wú)余.Leica DM6 M 配備高分 辨率的觸摸屏,您可以通過(guò)該控制單元,輕松實(shí)現(xiàn)所有電 動(dòng),編碼控制的功能.它具有用戶友好和直觀的優(yōu)勢(shì),由 于易操作,儀器狀態(tài)信息清晰可見(jiàn),從而縮短了用戶的培 訓(xùn)時(shí)間.

高分辨率暗場(chǎng) (HDF)，為您呈現(xiàn)更多細(xì)節(jié)

在很多行業(yè)應(yīng)用領(lǐng)域中，暗場(chǎng)照明是一項(xiàng)基本的觀察方法：它會(huì)對(duì)樣本進(jìn)行定位，并突出顯示樣本暗處的缺陷。在金相學(xué)中，由于暗場(chǎng)照明會(huì)突出顯示劃痕處，因此，您可以通過(guò)暗場(chǎng)照明來(lái)判斷拋光工藝的質(zhì)量。在微電子應(yīng)用領(lǐng)域，它還提供*不同的圖像，便于您發(fā)現(xiàn)缺陷。如今，徠卡顯微鏡系統(tǒng)新增的高分辨率暗場(chǎng) HDF 功能具備更多的觀察方法，即使再小的結(jié)構(gòu)也能清晰可見(jiàn)。對(duì)比常規(guī)暗場(chǎng)物鏡，徠卡的暗場(chǎng)物鏡的工作距離明顯增加。這樣能夠保護(hù)樣本和前置透鏡，并達(dá)到保護(hù)儀器的目的。

擁有專業(yè)知識(shí)的軟件 

使用 Leica Steel Expert Module 能夠根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，**評(píng)定鋼中夾雜物的等級(jí)。利用 Leica Cleanliness Expert Module 可依據(jù)水平和垂直規(guī)格進(jìn)行自動(dòng)化的顆粒分析，并獲得更多信息，比如金屬和非金屬比例。Leica Phase Expert 支持**測(cè)量多相微觀結(jié)構(gòu)，同時(shí) Leica Grain Expert 會(huì)進(jìn)行晶粒大小分析技術(shù)的綜合篩選，從而進(jìn)行材料研究和冶金學(xué)分析。