半導體絕緣子抗彎扭矩試驗機：主要用于半導體絕緣子的抗彎強度和扭轉性能檢測

1.半導體絕緣子抗彎扭矩試驗機試驗描述：
試驗機測控系統(tǒng)是專為三閉環(huán)電子持久試驗機設計的測控系統(tǒng)。可進行絕緣子拉伸、壓縮、彎曲、持久等試驗。采用 PC 機和接口板進行數據的采集、保存、處理和打印試驗結果。可計算zui大力、屈服力、平均剝離力、zui大變形、屈服點、彈性模量等參數；可進行曲線處理、多傳感器支持、圖形圖像化的界面、靈活的數據處理、MS-ACCESS數據庫支持，使系統(tǒng)功能更為強大。zui突出的特點就是實現(xiàn)了力值、變形、位置的閉環(huán)控制（簡稱三閉環(huán)），以及三個閉環(huán)的平滑切換；通過腳本控制，甚至可以實現(xiàn)循環(huán)（疲勞）和任意曲線控制；使試驗機可以進行高難度試驗的控制。
主要技術指標：
2.1 測力：
分辨率 1/250000
精度 0.3%
范圍 5KN ~ 500 kN 任意設置
傳感器靈敏度 1--40mV/V
激勵電壓 6VDC
2.2 位移(光電編碼器)：
分辨率 由機械系統(tǒng)和光電編碼器決定;一般達 1um
精度 儀表系統(tǒng)*.
范圍 0 ~ 30000 mm 任意設置
傳感器類型 AB 相正交輸出光電編碼器
2.3 采集速率： 50 次/S
2.4 位置控制(采用伺服電機脈沖控制方式)：
控制方式 脈沖
頻率范圍 0.1 Hz -- 50 kHz
精度 0.05%