詳細(xì)介紹
主要用途:
激光粒度分析儀是根據(jù)光的散射原理測(cè)量粉顆粒大小的,是一種比較通用的粒度儀。其特點(diǎn)是測(cè)量的動(dòng)態(tài)范圍寬、測(cè)量速度快、操作方便,尤其適合測(cè)量粒度分布范圍寬的粉體和液體霧滴。對(duì)粒度均勻的粉體,比如磨料微粉,要慎重選用。
產(chǎn)品功能:
激光粒度儀集成了激光技術(shù)、現(xiàn)代光電技術(shù)、電子技術(shù)、精密機(jī)械和計(jì)算機(jī)技術(shù),具有測(cè)量速度快、動(dòng)態(tài)范圍大、操作簡(jiǎn)便、重復(fù)性好等優(yōu)點(diǎn),現(xiàn)已成為*zui流行的粒度測(cè)試儀器。
主要應(yīng)用領(lǐng)域:
l.各種非金屬粉:如重鈣、輕鈣、*、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤(rùn)土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸鋯、氧化鋯、氧化鎂、氧化鋅等。
2.各種金屬粉:如鋁粉、鋅粉、鉬粉、鎢粉、鎂粉、銅粉以及稀土金屬粉、合金粉等。
3.其它粉體:如鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫(yī)藥、食品、涂料、染料、河流泥沙、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙?zhí)盍贤苛稀⒏鞣N乳濁液等。
激光粒度儀的原理
激光粒度儀是根據(jù)顆粒能使激光產(chǎn)生散射這一物理現(xiàn)象測(cè)試粒度分布的。由于激光具有很好的單色性和*的方向性,所以在沒有阻礙的無(wú)限空間中激光將會(huì)照射到無(wú)窮遠(yuǎn)的地方,并且在傳播過(guò)程中很少有發(fā)散的現(xiàn)象。
儀器系統(tǒng)的組成主要包括三部分
1)主機(jī)(光學(xué)元件),標(biāo)志為MasterSizer 2000;主機(jī)用來(lái)收集測(cè)量樣品內(nèi)粒度大小的原始數(shù)據(jù)。
2)附件(進(jìn)樣器),標(biāo)識(shí)為Hydro 2000G(普通濕法);附件*的目的就是將樣品分散混勻充分并傳送到主機(jī)以便于測(cè)量。
3)計(jì)算機(jī)和Malvern測(cè)量軟件;Malvern 軟件可定義、控制整個(gè)測(cè)量過(guò)程,并同時(shí)處理測(cè)量的粒度分布數(shù)據(jù)、顯示結(jié)果并打印報(bào)表。
常用的粒度測(cè)量方法
(1)篩分法
(2)沉降法(重力沉降法、離心沉降法)
(3)電阻法(庫(kù)爾特顆粒計(jì)數(shù)器)
(4)顯微鏡(圖像)法
(5)電鏡法
(6)超聲波法
(7)透氣法
(8)激光衍射法
各種方法的優(yōu)缺點(diǎn)
篩分法:優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀、設(shè)備造價(jià)低、常用于大于40μm的樣品。缺點(diǎn):不能用于40μm以細(xì)的樣品;結(jié)果受人為因素和篩孔變形影響較大。
顯微鏡法:優(yōu)點(diǎn):簡(jiǎn)單、直觀、可進(jìn)行形貌分析。 缺點(diǎn):速度慢、代表性差,無(wú)法測(cè)超細(xì)顆粒。
沉降法(包括重力沉降和離心沉降):優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,儀器可以連續(xù)運(yùn)行,價(jià)格低,準(zhǔn)確性和重復(fù)性較好,測(cè)試范圍較大。 缺點(diǎn):測(cè)試時(shí)間較長(zhǎng)。
電阻法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,可測(cè)顆粒總數(shù),等效概念明確,速度快,準(zhǔn)確性好。 缺點(diǎn):測(cè)試范圍較小,小孔容易被顆粒堵塞,介質(zhì)應(yīng)具備嚴(yán)格的導(dǎo)電特性。
電鏡法:優(yōu)點(diǎn):適合測(cè)試超細(xì)顆粒甚至納米顆粒、分辨率高。 缺點(diǎn):樣品少、代表性差、儀器價(jià)格昂貴。
超聲波法:優(yōu)點(diǎn):可對(duì)高濃度漿料直接測(cè)量。 缺點(diǎn):分辨率較低。
透氣法:優(yōu)點(diǎn):儀器價(jià)格低,不用對(duì)樣品進(jìn)行分散,可測(cè)磁性材料粉體。 缺點(diǎn):只能得到平均粒度值,不能測(cè)粒度分布。
激光法:優(yōu)點(diǎn):操作簡(jiǎn)便,測(cè)試速度快,測(cè)試范圍大,重復(fù)性和準(zhǔn)確性好,可進(jìn)行在線測(cè)量和干法測(cè)量。 缺點(diǎn):儀器造價(jià)較高但性能穩(wěn)定。