接觸式掃描測量

“掃描"升級 效率提升新一代SPECTRUM讓接觸式掃描測量技術(shù)成為蔡司全系列測量設(shè)備的標(biāo)準(zhǔn)配置，三坐標(biāo)測量真正來到了“全掃描"的時代。SPECTRUM采用的掃描技術(shù)，可以獲得更全面的輪廓信息，相比單點觸發(fā)測量能夠獲得更高的可靠性和重復(fù)性，可以控制工件質(zhì)量及提高生產(chǎn)成本。
量身定制 高效體現(xiàn)為滿足不同客戶的測量需求，新一代SPECTRUM三坐標(biāo)測量機專門為用戶量身定制，可以搭配三款不同的測頭：觸發(fā)式測頭、直接式掃描測頭及旋轉(zhuǎn)測頭。同時配備了蔡司*的RDS-CAA技術(shù)，僅需一次校準(zhǔn)，即可使用全部5184個角度位置，大大減少了探針校準(zhǔn)時間，滿足了市場上對于高效測量的更快生產(chǎn)力的需求。

軟硬結(jié)合 性能全面

除了高穩(wěn)定性和可靠性，新一代SPECTRUM在軟件方面搭配功能強大的CALYPSO軟件。圖形化的測量編程平臺讓操作者更容易上手，并且能夠大幅提高編程效率;圖形化的測量報告系統(tǒng)能夠讓質(zhì)量管理者更直觀高效地進(jìn)行產(chǎn)品測量結(jié)果的管控。全新SPECTRUM在工業(yè)領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用，適合小型外殼、沖壓件、數(shù)控加工零件及塑料件的檢測;此外在醫(yī)療和電子行業(yè)也可以滿足客戶的檢測需求。

測量范圍(in mm)

500 x 500 x 600
700 x 700 x 600
700 x 1000 x 600

測量誤差E0

自1.9+L/250*μm起

可配置的傳感器

  RDS-C5&VAST XXT

                                                            VAST XXT

                                                            ZEISS XDT