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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了精度等級為00級.0級巖石平板的型式與尺寸，技術(shù)要求，檢驗(yàn)方法，標(biāo)志與包裝等。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于工作面為150mm×200mm~4000mm×2500mm（長度×寬度）的巖石平板（以下簡稱平板）。
通過在本標(biāo)準(zhǔn)中引用而構(gòu)成為本標(biāo)準(zhǔn)的條文。本標(biāo)準(zhǔn)出版時，所示版本均為有效。所有標(biāo)準(zhǔn)都會被修訂，使用本標(biāo)準(zhǔn)的各方應(yīng)探討使用下列標(biāo)準(zhǔn)新版本的可能性。
GB/T1184—1996 形狀和位置公差 未注公差的規(guī)定
  平板
用于工件檢測或劃線的平面基準(zhǔn)器具，又稱為平臺。
  主支點(diǎn)
平板在加工.檢定和使用中，與安裝基面或支架接觸時，用作主要支撐的部分。此時的支撐力系靜定狀態(tài)。
  輔助支點(diǎn)
平板在使用時，為了防止因負(fù)載重心的偏移而發(fā)生傾覆或因負(fù)載過大而產(chǎn)生有害的變形所增設(shè)的支點(diǎn)。輔助支點(diǎn)上的支反力應(yīng)小于主支點(diǎn)上的支反力。
 
   技術(shù)要求
平板工作面上不得有嚴(yán)重影響外觀和使用性能的砂孔、氣孔、裂紋、夾渣、縮松、劃痕、碰傷、銹跡等缺陷。
平板非工作面上的凹陷或掉角允許修補(bǔ)
平板應(yīng)采用細(xì)晶粒、結(jié)構(gòu)致密的輝長巖、輝綠巖、花崗石（黑云母應(yīng)小于5%、彈性模量應(yīng)大于0.6×10—4kg/cm2、吸水率應(yīng)小于0.25%）等材料制造，其工作面硬度應(yīng)大于70HS。
平板工作面的表面粗糙度Ra的大允許值為0.32~0.63um，側(cè)面為10um。
平板側(cè)面對工作面的垂直度公差和平板兩相鄰側(cè)面的垂直度公差均按GB/T1184中規(guī)定的12級。
  檢驗(yàn)方法
平面波動量將平面波動儀放在平板工作面上，沿任意一直線方向移動平面波動儀。移動距離為平板對角線長度的儀半且不應(yīng)小于200mm。取平面波動儀的指示表（分度值為0.001mm）上大值與小值之差，即為被檢平板工作面的平面波動量。
  撓度
將檢測裝置放在被檢平板工作面上，在不加載荷時，將扭簧比較儀測頭與工作面相接觸（為使測量準(zhǔn)確，測頭與工作面之間可放一塊薄量塊）且記下讀數(shù)。然后根據(jù)表4規(guī)定的額定載荷施加力且記下讀數(shù)，兩次讀數(shù)之差，即為被檢平板工作面在額定載荷下的撓度值。