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手持激光掃描儀幾種不同的掃描測(cè)量方式
閱讀:952 發(fā)布時(shí)間:2018-9-29
傳統(tǒng)的激光掃描儀在不同測(cè)站進(jìn)行掃描時(shí),必須保持儀器穩(wěn)定并測(cè)出不同測(cè)站間的坐標(biāo)轉(zhuǎn)換參數(shù)。手持激光掃描儀的出現(xiàn),解決了這一煩惱,它能夠展現(xiàn)掃描對(duì)象極其復(fù)雜細(xì)致的細(xì)節(jié),精度非常高。帶來(lái)了簡(jiǎn)便的便攜式3D掃描體驗(yàn),從而提供快速而可靠的測(cè)量。使用這些手持式3D掃描儀時(shí),甚至可以采集全彩3D數(shù)據(jù)。
手持激光掃描儀幾種不同的掃描測(cè)量方式:
1.線測(cè)量:
適合掃描中小件物體,掃描景深小(一般只有5公分),精度較高,此代系統(tǒng)是發(fā)展比較成熟的,其新產(chǎn)品高精度已經(jīng)達(dá)到0.01微米。所以,精度上,其比肩點(diǎn)掃描。速度上已有極大地提高。在高精度工業(yè)設(shè)計(jì)領(lǐng)域,將有廣闊用途。
通過(guò)一段(一般為幾公分,激光線過(guò)長(zhǎng)會(huì)發(fā)散)有效的激光線照射物體表面,再通過(guò)傳感器得到物體表面數(shù)據(jù)信息。
2.點(diǎn)測(cè)量:
適合做物體表面形位公差檢測(cè)用。
通過(guò)每一次的測(cè)量點(diǎn)反映物體表面特征,優(yōu)點(diǎn)是精度高,但速度慢,如果要做逆向工程,只能在測(cè)量高精密形位公差要求的物體上有優(yōu)勢(shì)。
3.面測(cè)量:
用于3D檢測(cè);鈑金檢測(cè)和公差分析;檢具檢測(cè);CAD比對(duì);大型金屬構(gòu)架測(cè)。
通過(guò)一組(一面光)光柵的位移,再同時(shí)經(jīng)過(guò)傳感器而采集到物體表面的數(shù)據(jù)信息。
手持激光掃描儀幾種不同的掃描測(cè)量方式:
1.線測(cè)量:
適合掃描中小件物體,掃描景深小(一般只有5公分),精度較高,此代系統(tǒng)是發(fā)展比較成熟的,其新產(chǎn)品高精度已經(jīng)達(dá)到0.01微米。所以,精度上,其比肩點(diǎn)掃描。速度上已有極大地提高。在高精度工業(yè)設(shè)計(jì)領(lǐng)域,將有廣闊用途。
通過(guò)一段(一般為幾公分,激光線過(guò)長(zhǎng)會(huì)發(fā)散)有效的激光線照射物體表面,再通過(guò)傳感器得到物體表面數(shù)據(jù)信息。
2.點(diǎn)測(cè)量:
適合做物體表面形位公差檢測(cè)用。
通過(guò)每一次的測(cè)量點(diǎn)反映物體表面特征,優(yōu)點(diǎn)是精度高,但速度慢,如果要做逆向工程,只能在測(cè)量高精密形位公差要求的物體上有優(yōu)勢(shì)。
3.面測(cè)量:
用于3D檢測(cè);鈑金檢測(cè)和公差分析;檢具檢測(cè);CAD比對(duì);大型金屬構(gòu)架測(cè)。
通過(guò)一組(一面光)光柵的位移,再同時(shí)經(jīng)過(guò)傳感器而采集到物體表面的數(shù)據(jù)信息。