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詳細(xì)介紹
三坐標(biāo)平板適用于各種三坐標(biāo)檢驗(yàn)測量工作，表面附有三座標(biāo)線，方便三座標(biāo)測量，三坐標(biāo)平板可以精確測量零件的精確度和形位偏差，三坐標(biāo)平板在機(jī)械制造中是*的基本工具。
三坐標(biāo)測量是指在一個(gè)六面體的空間范圍內(nèi)，能夠測量，幾何形狀、長度及圓周分度等。三坐標(biāo)測量儀可定義為“一種具有可作三個(gè)方向移動的探測器，可在三個(gè)相互垂直的導(dǎo)軌上移動，此探測器以接觸或非接觸等方式傳送訊號，三個(gè)軸的位移測量系統(tǒng)（如光學(xué)尺）經(jīng)數(shù)據(jù)處理器或計(jì)算機(jī)等計(jì)算出工件的各點(diǎn)坐標(biāo)（X、Y、Z）及各項(xiàng)功能測量的儀器”。三坐標(biāo)測量儀可測量高精度的幾何零件和曲面；測量復(fù)雜形狀的機(jī)械零部件；檢測自由曲面；可選用接觸式或非接觸式測頭進(jìn)行連續(xù)掃描。在三坐標(biāo)平板上測量時(shí)要注意平臺工作面要平整光滑，不可有劃痕、碰傷、銹跡、及其他影響使用的外觀缺陷。鑄造表面應(yīng)清除型砂、表面平整，涂漆牢固。各棱邊修鈍。在精度等級低于“00”級的平板工作面，對于直徑小于15mm的砂孔允許用相同的材料堵塞，其硬度應(yīng)低于周圍材料的硬度。在三坐標(biāo)平板工作面上堵塞的部位應(yīng)不多于四處，其相互之間的距離應(yīng)大于80mm。三坐標(biāo)平板工作面應(yīng)采用刮削工藝，對于“3”級平板工作面也可以采用刨削工藝，刨削工作表面的表面粗糙度按輪廓算術(shù)平均偏差Ra值應(yīng)不大于5um。三坐標(biāo)平板應(yīng)經(jīng)過穩(wěn)定性處理和去磁處理。
三坐標(biāo)平板一般用高強(qiáng)度鑄鐵HT200-300鑄成，工作面硬度為HB170-240，經(jīng)過人工退火600度-700度和自然時(shí)效2-3年后，精度穩(wěn)定，耐磨性能好。 三坐標(biāo)平板規(guī)格在100*100—3000*6000之間，大于此規(guī)格的三坐標(biāo)平板可以拼裝使用或按圖紙訂做。
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