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當(dāng)前位置：北京海普瑞森超精密技術(shù)有限公司>>精密光學(xué)機床>>二維輪廓度測量儀>> CLY-200B高精度二維輪廓度測量儀
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號CLY-200B
品 牌 海普超精
廠商性質(zhì)生產(chǎn)商
所 在 地北京市
聯(lián)系方式：張女士查看聯(lián)系方式
更新時間：2018-11-16 16:03:55瀏覽次數(shù)：2472次
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| 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 類型 | 二維輪廓儀 |
|---|
CLY-200B高精度二維輪廓度測量儀主要配置
花崗石底座，滑動橫梁，滑動立柱，平移臺。
氣浮轉(zhuǎn)軸測頭（技術(shù)）。
測量臂可快速更換，測量力可微調(diào)。
CLY-200B高精度二維輪廓度測量儀技術(shù)參數(shù)
調(diào)整臺
平移臺直徑200mm
平移臺行程100mm
Y軸（滑動立柱）
行程360mm
運動直線度5µm
X軸（滑動橫梁）
行程200mm
直線度2µm/200mm
氣浮測頭（測量臂長55mm）
測量精度1µm
測量矢高（zui大）10mm
CLY-200B使用環(huán)境要求
設(shè)備使用溫度:20±2℃。一天內(nèi)溫度梯度小于3℃。
濕度：＜65%。
空氣壓力：≥0.6MPa。
空氣過濾精度：0.01um。除油、除水。
空氣流量: ≥0.1m³/min。
CLY-200B應(yīng)用領(lǐng)域
二維輪廓度測量儀是光學(xué)元器件檢測*的設(shè)備。可測量光學(xué)元件的輪廓度與光學(xué)方程的誤差。可逆推光學(xué)方程，對未知表面具有逆推系數(shù)的分析能力。適合全線光學(xué)元器件的測量（包括陡峭、平坦或小矢高等光學(xué)元器件）。
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