北廣精儀體積表面電阻率測(cè)試儀

北廣精儀體積表面電阻率測(cè)試儀

質(zhì)量: 約3.0KG。

材料高阻測(cè)試測(cè)量如防靜電產(chǎn)品（防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì) 算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等）電阻值的檢測(cè)；

供電形式: AC 220V，50HZ，功耗約10W。

108 0.01～19.99 5%

測(cè)試電壓: DC10V、50V、100V、250V、500V、1000V。±10%

GB/T 1552-1995 硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直排四探針法

GB/T 6617-1995 硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針法

電流測(cè)量范圍為2×10-4A ～1×10-16A

體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀工作原理

1014以上 0.01～19.99 10-15%+5字

109 0.01～19.99 5%

體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀技術(shù)指標(biāo)

本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購.

使用環(huán)境: 溫度 -10℃～50℃ 相對(duì)濕度<90%。104 0.01~19.99 5%

BEST380型數(shù)字高阻計(jì)是同時(shí)測(cè)出電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I，通過內(nèi)部的大規(guī)模集成電路完成電壓除以電流的計(jì)算，

準(zhǔn)確度: 準(zhǔn)確度優(yōu)于下表

超出有效顯示范圍時(shí)誤差有可能增加，測(cè)試電流準(zhǔn)確度與電阻相同，測(cè)試電壓準(zhǔn)確度為 10%

材料體積電阻(率)和表面電阻(率)測(cè)量；

微弱電流測(cè)量如光電效應(yīng)和器件暗電流測(cè)量。

1010    0.01～19.99 5%+2字

應(yīng)用范圍 ：

107 0.01～19.99 5%

根據(jù)歐姆定律，被測(cè)電阻Rx等于施加電壓V除以通過的電流I。傳統(tǒng)的高阻計(jì)的工作原理是測(cè)量電壓V固定，通過測(cè)量流過取樣電阻的電流I來得到電阻值。從歐姆定律可以看出，由于電流I是與電阻成反比，而不是成正比，所以電阻的顯示值是非線性的，即電阻無窮大時(shí)，電流為零，即表頭的零位處是∞，其附近的刻度非常密，分辨率很低整個(gè)刻度是非線性的。又由于測(cè)量不同的電阻時(shí)，其電壓V也會(huì)有些變化，所以普通的高阻計(jì)是精度差、分辨率低。

1014 0.01～19.99 10%+5字

體積電阻率和表面電阻率測(cè)試儀儀器其它可選配件：注：本儀器配不同的測(cè)量電極（夾具）可以測(cè)量不同材料不（固體、粉體或液體）的體積電阻率和表面電阻率或電導(dǎo)率，*符合或優(yōu)于國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB1410－89固體電工絕緣材料絕緣電阻、體積電阻系數(shù)和表面電阻試驗(yàn)方法，ASTM D257 絕緣材料的直流電阻或電導(dǎo)試驗(yàn)方法　等標(biāo)準(zhǔn)要求。

106 0.01～19.99 5%

電阻測(cè)量范圍： 1×104Ω ～1×1018Ω，分為十個(gè)量程。

量程 有效顯示范圍 20～30℃ RH<80%

本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇，BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。

提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，滿足國(guó)內(nèi)及國(guó)外客戶需求

本儀器具有精度高、顯示迅速、穩(wěn)定性好、讀數(shù)方便, 適用于防靜電產(chǎn)品 如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防樹脂云母體積表面電阻率測(cè)試儀靜電活動(dòng)地板等電阻值的檢驗(yàn)以及絕緣材料和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器除能測(cè)電阻外，還能直接測(cè)量電流如電子器件暗電流等

GB/T 14141-2009 硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層薄層電阻的測(cè)定.直排四探針法

在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中，四探針法涉及到半金屬與半導(dǎo)體材料綜合、金屬物理性能試驗(yàn)方法、、、電工合金零件、特種陶瓷、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電阻器、半導(dǎo)體集成電路、工程地質(zhì)、水文地質(zhì)勘察與巖土工程、水環(huán)境有毒害物質(zhì)分析方法、電工材料和通用零件綜合、半金屬、元素半導(dǎo)體材料、金屬無損檢驗(yàn)方法。

10110.01～19.99 5%+2字

GB/T 6617-2009 硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針法

1013 0.01～19.99 10%+5字

電化學(xué)和材料測(cè)試,以及物理,光學(xué)和材料研究;

然后把所得到的結(jié)果經(jīng)過A/D轉(zhuǎn)換后以數(shù)字顯示出電阻值，即便是電阻兩端的電壓V和流過電阻的電流I是同時(shí)變化，其顯示的電阻值不象普通高阻計(jì)那樣因被測(cè)電壓V的變化或電流Ｉ的變化而變，

1012 0.01～19.99 5%+5字

105 0.01～19.99 5%

全數(shù)字液晶屏顯示。

GB/T 1551-1995 硅、鍺單晶電阻率測(cè)定 直流兩探針法

本儀器可提供中國(guó)*校準(zhǔn)鑒定證書

儀器尺寸: 300ｍｍ× 280ｍｍ× 150 mm。

所以，即使測(cè)量電壓、被測(cè)量電阻、電源電壓等發(fā)生變化對(duì)其結(jié)果影響不大，其測(cè)量精度很高()，從理論上講其誤差可以做到零，而實(shí)際誤差可以做到千分之幾或萬分之幾。

體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：