ATM-4030V全自動高精度二次元影像測量儀詳細介紹：

ATM系列配合英國 Renishaw接觸式測頭或日本基恩士非接觸式激光，做2D/3D復(fù)合式測量。此三維測量與二維影像測量系統(tǒng)基準(zhǔn) 統(tǒng)一，結(jié)合使用，增加測量功能、快捷、方便。 公司擁有光學(xué)、軟件、電子、圖像處理、精密機械、自動化控制等專業(yè)的研發(fā)團隊，專注于光機電數(shù)字精密儀器測量檢測領(lǐng)域的技術(shù)研發(fā)及生產(chǎn)，廣泛應(yīng)用于工業(yè)視覺2D、3D復(fù)雜尺寸的測量和產(chǎn)品缺陷的檢測。自主研發(fā) 工業(yè)視覺檢測系統(tǒng)、數(shù)控和機器人控制系統(tǒng)、工業(yè)機器人工作站等軟硬件產(chǎn)品。

一、技術(shù)參數(shù)

二、環(huán)境條件及要求

三、軟件特點

RationalVue是由美國計量軟件公司研發(fā)團隊24年專業(yè)計量軟件的成功開發(fā)經(jīng)驗、繼承了CAD無縫鏈接、100%圖形化顯示、快速拖拽式操作、實時數(shù)模比對、圖形報告多樣化。
一套美國RationalVue = 二維檢測比對軟件 + CAD逆向軟件 + Form分析軟件 + 輪廓掃描軟件 + SPC統(tǒng)計分析軟件 + 形位公差評價， 美國RationalVue絕大部分功能實現(xiàn)只需要鼠標(biāo)的1-2次拖拽可完成。操作快捷、提高效率，拖放式操作：“鼠標(biāo)點擊" + “鼠標(biāo)拖拽" = 強大功能的實現(xiàn)
功能：
1．可以運行程序的過程中暫停執(zhí)行程序，并對某元素修改后，繼續(xù)向下測量。
2．大半徑小圓弧的精準(zhǔn)測量
3．快速精準(zhǔn)的影像對焦功能    
4．自動巡邊測量功能        
5．批量設(shè)置元素的公差帶及名義值    
6．可建立多重工件座標(biāo)系。并可以建立多重Z軸座標(biāo)系。
7．修改編輯及查看尋邊狀況                           
8．可以修改元素名稱及尺寸名稱，以與客戶圖紙一致。
9．功能強大的自定義報表功能
10．符合國家標(biāo)準(zhǔn)的形位公差計算能力
11．基于CAD，快速比對，可導(dǎo)入DXF格式的CAD文件CAD直接用于指導(dǎo)測量，并完成實際與理論的比對功能。使得測量效率提高了2-3倍。可完成位置度、曲線輪廓度、曲面輪廓度等ISO形位公差的測量。
12．最完整的幾何測量功能
13．工件拼圖&導(dǎo)航功能
14．特殊邊緣測量功能
15．毛刺過濾功能
16．強邊緣功能功能
17．對焦測量高度、平面度功能
18．強大的弱邊測量&曲線輪廓掃描功能
19．美國RtionalVue具有專業(yè)的針對網(wǎng)板的測量工具，可輕松的實現(xiàn)網(wǎng)板直線的測量。
20．最完整的形位公差計算（包括：二維和三維、形狀公差、位置公差、形位公差）。
21．完整的圖形構(gòu)造功能
22．SPC統(tǒng)計功能
23．逆向工程功能
24．特殊邊緣處理顏色過濾、灰度過濾功能
25．修改編輯及查看尋邊狀況：軟件可以修改編輯任何測量元素的尋邊范圍，光源亮度,倍率等。還可以查看之前測量的某個元素的尋邊狀況(包括尋邊的位置,所用的光源亮度,倍率及所采的原始點等)，以便用戶掌控測量的全過程的狀況.