設(shè)備簡(jiǎn)介：CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，...

CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T22

設(shè)備簡(jiǎn)介：CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，...

CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我們根據(jù)目前國(guó)內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬夏比擺錘沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)的一種于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，該儀器是利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口輪廓放大投射到投影屏上，與投影屏上沖擊試樣V和U型缺口標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，其優(yōu)點(diǎn)是操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直觀，效率高。
主要技術(shù)指標(biāo)
1、投影屏直徑 ：180mm
2、工作臺(tái)尺寸 ：方工作臺(tái)尺寸：110×125mm  工作臺(tái)直徑：90mm  工作臺(tái)玻璃直徑：70mm
3、工作臺(tái)行程 ：縱向：±10mm  橫向：±10mm  升降：±12mm
4、工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍: 0～360°
5、儀器放大倍率：50X    物鏡放大倍率： 2.5X    投影物鏡放大倍率：20x
6、光源（鹵鎢燈）：12V    100W
7、電源：  220V   50Hz
8、外形尺寸：515×224×603mm
9、重量：  30kg