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一、側(cè)打光式組件測試儀設(shè)備主要用途：單晶硅和多晶硅太陽能電池組件的電性能參數(shù)的測試和結(jié)果記錄。
二、側(cè)打光式組件測試儀設(shè)備主要技術(shù)指標
3.1、模擬光源
a、大功率脈沖氙燈
b、光譜范圍符合IEC60904-9光譜輻照度分布要求AM1.5
c、光強100mW/cm2（調(diào)節(jié)范圍70～120mW/cm2）
d、光強不均勻度±3%
e、輻照不穩(wěn)定度±2%
f、氙燈使用壽命10萬次（進口）
g、具有閃光次數(shù)記數(shù)功能（更換歸零重置）
h、出光方向為垂直下打光
3.2、測試范圍
a、有效測試面積
b、有效測試范圍
c、測量電壓
d、測量電流
e、測量溫度
3.3、測試精度
a、測試重復(fù)精度
b、電性能測試誤差
3.4、測量方式：四線測量
3.5、測試參數(shù)：Isc、Voc、Pmax、Vm、Im、FF、EFF、Temp 、Rs、 Rsh
3.6、測試間隔時間
3.7、數(shù)據(jù)采集： I-V曲線含8000個數(shù)據(jù)采集點
3.8、測試條件校正：自校正裝置（包括手動輸入補償參數(shù)、自動/手動溫度補償、光強自動補償）
3.9、溫度測量
a、自動測測試溫度
b、溫度補償和顯示
c、可對測試溫度進行溫度修正
3.10、測試結(jié)果
a、顯示測試時間和圖形化參數(shù)（I-V特性曲線）
b、測試結(jié)果具備折算到標準測試條件下的能力
c、測試結(jié)果語音報數(shù)和語音提示
3.11、測試報告
a、當(dāng)前工作界面顯示并可記錄I-V特性曲線
b、可將所有組件的主要測試參數(shù)保存到硬盤的文件
c、的文件可以自主命名
3.12、數(shù)據(jù)匯總與打印
a、根據(jù)設(shè)定時間段或隨時進行數(shù)據(jù)匯總
b、以Excel格式打印（包括I-V特性曲線累計輸出）
3.13、軟件
a、溫度補償系數(shù)輸入
b、日期名稱行列數(shù)輸入
c、序列號起始設(shè)置自動遞增
d、不良品參數(shù)范圍設(shè)置
3.14、工作時間：設(shè)備可連續(xù)工作12小時以上
3.15、使用電源：單相220V / 60Hz / 2kW
三、側(cè)打光式組件測試儀設(shè)備整機配置
4.1、 測試主機（含電子負載）
4.2、 光源
4.3、 計算機
4.4、14位同步高速A/D板卡
4.5、 測量軟件
4.6、 打印機（A4噴墨彩色打印機）
4.7、 標準電池（用于調(diào)整光強和校正光強均勻度）
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