詳細(xì)介紹
平板電視驅(qū)動(dòng)板測(cè)試系統(tǒng):
1.本測(cè)試方案根據(jù)LCD驅(qū)動(dòng)電路板的應(yīng)用特點(diǎn),針對(duì)FCT型通用功能測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行優(yōu)化,
2.并配合的測(cè)試工裝,以 開(kāi)放式的軟件架構(gòu)和模塊化的硬件體系,結(jié) 合高精度可編程電源、
3.高性能可編程數(shù)字視頻信號(hào)源等設(shè)備為基礎(chǔ)的模塊化硬件設(shè)計(jì),提供了真正的全自動(dòng) LCD
4.驅(qū)動(dòng)電路板測(cè)試解決方案。整個(gè)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)緊湊,功能完備、自動(dòng)化程度高,測(cè)量快速準(zhǔn)確,
5.測(cè)試報(bào)告處理完善,可大大提高檢測(cè)效率。
??? 主營(yíng)產(chǎn)品:自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)開(kāi)發(fā),自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)設(shè)計(jì),自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備,自動(dòng)化測(cè)試工裝,自動(dòng)化測(cè)試夾具,自動(dòng)化測(cè)試
??? 關(guān)于自動(dòng)化功能測(cè)試的幾個(gè)問(wèn)題
1、應(yīng)用范圍:原則上來(lái)講,任何電子產(chǎn)品在應(yīng)用之前都會(huì)經(jīng)過(guò)測(cè)試,所以無(wú)論是電子成品或獨(dú)立電子模塊部件,還是PCBA半成品都涉及到測(cè)試方面的工作;
2、測(cè)試基本上包括電路測(cè)試、工藝測(cè)試和功能測(cè)試等幾個(gè)大類(lèi),功能測(cè)試即指FCT,具體分為 半成品的功能測(cè)試(諸如PCBA測(cè)試,或部分FAT,模塊的功能測(cè)試和成品的功能測(cè)試等;
3、功能測(cè)試應(yīng)用非常廣泛,涉及領(lǐng)域也很多,而實(shí)現(xiàn)一個(gè)功能測(cè)試方案,需要各種相關(guān)領(lǐng)域的深度專(zhuān)業(yè)知識(shí)和人才,包括對(duì)DUT產(chǎn)品的認(rèn)識(shí),對(duì)DUT測(cè)試規(guī)范的理解,對(duì)相關(guān)測(cè)試設(shè)備和儀器的熟悉應(yīng)用,對(duì)各種板基電路底層驅(qū)動(dòng)、對(duì)各種電路界面和配套儀器的驅(qū)動(dòng),對(duì)各種測(cè)試軟件和底層代碼的熟悉,對(duì)測(cè)試硬件和夾具、界面、儀器、配套部件的整合等等;
4、測(cè)試的精確性、完整性、穩(wěn)定性、可靠性、可維護(hù)性、操作方便性及性?xún)r(jià)比*性。
5、功能測(cè)試(FT:Functional Test或FCT:Functional Circuit Test)指的是對(duì)測(cè)試目標(biāo)板(UUT:Unit Under Test)的提供模擬的運(yùn)行環(huán)境,使UUT工作于設(shè)計(jì)狀態(tài),從而獲取輸出,進(jìn)行驗(yàn)證UUT的功能狀態(tài)的測(cè)試方法。簡(jiǎn)單地說(shuō),就是對(duì)UUT加載合適的激勵(lì),測(cè)量輸出端響應(yīng)是否合乎要求。
??? 功能測(cè)試作為PCBA(Printed Cirruit Board Assembly)的一種測(cè)試手段,在生產(chǎn)測(cè)試工序中,位于ICT,飛針,AOI,或X-Ray測(cè)試后,在系統(tǒng)聯(lián)機(jī)測(cè)試前。FT是檢測(cè)UUT是否良好的zui直觀的手段。與ICT,飛針,AOI,X-Ray不同,這些測(cè)試方法都是檢測(cè)元器件是否良好,焊接是否良好,由于測(cè)試覆蓋率,器件功能等問(wèn)題,UUT通過(guò)以上的測(cè)試流程,但無(wú)法保證能正常工作。特別是一些需要工廠調(diào)試,校準(zhǔn)等過(guò)程參與的工序,F(xiàn)T的作用是*的。FT的優(yōu)點(diǎn)在于直觀,它是直接檢測(cè)UUT是否正常工作的*手段,而且可信度高,測(cè)試覆蓋率高,缺點(diǎn)通用性差。
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