1..安捷倫 4287A射頻LCR測試儀在1 MHz~3 GHz頻率范圍可以提供精確、
9..可靠和快速測量,以改進(jìn)生產(chǎn)線上對電子元件進(jìn)行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測量技術(shù)不同,
1..采用直流電壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測量。
6..安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對電子元器件進(jìn)行測試。4287A的測量速度非常快。
2..此外,在小測試電流(100mA)處優(yōu)良的測試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率,因為所需的取平均過程非常短。
2..測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點附近,
8..而不會使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來簡化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。
1..增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉室適用于多頻或陣列芯片測試。
彩色顯示器能清楚觀察測量設(shè)置和結(jié)果。新研制的用戶接口使操作過程更為方便且無差錯。
內(nèi)置統(tǒng)計分析功能可以提供監(jiān)視測試質(zhì)量和效率的過程。可選用的LAN接口有助于統(tǒng)一進(jìn)行生產(chǎn)監(jiān)控。
此外,若干APC-7,SMD測試夾具可以與4287所提供的夾具架和APC-3.5轉(zhuǎn)APC-7適配器聯(lián)用,從而無需制作專用夾具。