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法國Phasics SID4系列波前分析儀

參考價	￥ 290000
訂貨量	≥1臺

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

公司名稱上海屹持光電技術(shù)有限公司
品牌其他品牌
型號
所在地上海市
廠商性質(zhì)代理商
更新時間 2023-04-20
訪問次數(shù)576

產(chǎn)品標(biāo)簽:

Phasics 波前分析儀波前傳感器 SID4

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公司介紹主營產(chǎn)品

公司簡介

上海屹持光電技術(shù)有限公司是一家專業(yè)從事太赫茲、超快激光、傳統(tǒng)激光等領(lǐng)域相關(guān)產(chǎn)品的研發(fā)、引進(jìn)、銷售、方案設(shè)計、組裝集成、技術(shù)服務(wù)的現(xiàn)代高科技企業(yè)，總部位于上海市閔行區(qū)，毗鄰上海交通大學(xué)國家大學(xué)科技園。團隊成員具有深厚光電專業(yè)背景和長期從業(yè)經(jīng)驗，利用自身的專業(yè)優(yōu)勢將優(yōu)質(zhì)的工業(yè)和科研設(shè)備及服務(wù)提供給用戶。從單個產(chǎn)品到整體解決方案，從商務(wù)服務(wù)到技術(shù)支持，屹持光電均獲得了廣大用戶的肯定和信賴。

公司理念：專業(yè)嚴(yán)謹(jǐn)、誠信共贏、屹于光電、持之以恒。
主營產(chǎn)品：

太赫茲：

·- 太赫茲時域光譜儀TDS、光泵浦太赫茲探測系統(tǒng)OPTP、太赫茲近場掃描探測系統(tǒng)、波前傾斜強場太赫茲產(chǎn)生器、量子級聯(lián)激光器、亞太赫茲源、返波管、非制冷焦平面陣列太赫茲相機、亞太赫茲相機、太赫茲高速線性相機等

·- 高萊探測器、熱釋電太赫茲功率計、太赫茲功率計、太赫茲能量計、超快太赫茲探測器、太赫茲掃描法布里-珀luogan涉儀等

·- 太赫茲光電導(dǎo)天線、太赫茲近場探針、各類太赫茲鏡片、太赫茲偏振片、鈮酸鋰晶體、太赫茲晶體ZnTe/GaP、有機晶體DAST/OH1/DSTMS、太赫茲相機鏡頭等

·- 太赫茲光譜系統(tǒng)方案等、太赫茲成像系統(tǒng)方案

超快激光：

· - 飛秒光纖激光器種子源、高功率飛秒光纖激光器、飛秒超連續(xù)譜光源、可調(diào)諧飛秒激光器、飛秒振蕩器、飛秒放大器等；

·- 皮秒光纖激光器種子源、高功率皮秒激光器、半導(dǎo)體皮秒激光器、DPSS高能量皮秒激光器、亞納秒激光器等；

·- 掃描自相關(guān)儀、單次自相關(guān)儀、三階自相關(guān)儀、超短脈沖測量儀FROG、脈沖選擇器、脈沖壓縮器、超快諧波倍頻器、超快激光同步系統(tǒng)等；

·- 半導(dǎo)體可飽和吸收鏡SESAM、皮秒微片激光芯片、超快光纖布拉格光柵、色散補償光柵、色散補償棱鏡、超快激光鏡片、法拉第隔離器/旋轉(zhuǎn)器等；

·- 飛秒皮秒微加工

傳統(tǒng)激光：

·- CW連續(xù)激光器、納秒激光器、氣體激光器、固體激光器、半導(dǎo)體激光器、光纖激光器、窄線寬激光器、SLD/ASE寬光譜激光器、波長可調(diào)諧激光器OPO等；

·- 激光驅(qū)動白光光源、超連續(xù)譜光源、光譜儀、單色儀、分光光度計、光柵、紅外相機等

·- 波前分析儀、光束質(zhì)量分析儀、光學(xué)斬波器、光電探測器、單光子探測器、激光功率計、激光波長計等

·- 光纖放大器、光纖濾波器、光時域反射計OTDR等

- 光學(xué)鏡片、光機器件等

展開顯示更多內(nèi)容

太赫茲時域光譜儀TDS、光泵浦太赫茲探測系統(tǒng)OPTP，CW連續(xù)激光器、納秒激光器、氣體激光器、固體激光器、半導(dǎo)體激光器、光纖激光器、窄線寬激光器、SLD/ASE寬光譜激光器、波長可調(diào)諧激光器OPO等

產(chǎn)品簡介在線詢價

產(chǎn)地	進(jìn)口	外形尺寸（長×寬×高）	54×46×75.3mm
銷售區(qū)域	全國,華東,華南,華北,華中,東北,西南,西北,港澳臺,海外	重量	0.25kg

法國PHASICS 的波前分析儀（上海屹持光電代理），基于其波前測量專li——四波橫向剪切干涉技術(shù)（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作為夏克-哈特曼技術(shù)的改進(jìn)型，這種獨te的專li技術(shù)將高分辨率和大動態(tài)范圍結(jié)合在一起。任何應(yīng)用下，其都能實現(xiàn)全面、簡便、快速的測量。法國Phasics SID4系列波前分析儀

法國Phasics SID4系列波前分析儀產(chǎn)品信息

法國PhasicsSID4系列波前傳感器

-----四波橫向剪切干涉波前傳感器

產(chǎn)品介紹：法國PHASICS 的波前分析儀（上海屹持光電代理），基于其波前測量專li——四波橫向剪切干涉技術(shù)（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作為夏克-哈特曼技術(shù)的改進(jìn)型，這種獨te的專li技術(shù)將高分辨率和大動態(tài)范圍很好地結(jié)合在一起。能實現(xiàn)全面、簡便、快速的測量。

主要應(yīng)用領(lǐng)域：

1. 激光光束參數(shù)測量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直徑，澤尼克/勒讓德系數(shù)

2. 自適應(yīng)光學(xué)：焦斑優(yōu)化，光束整形

3. 元器件表面質(zhì)量分析：表面質(zhì)量（RMS，PtV，WFE），曲率半徑

4.光學(xué)系統(tǒng)質(zhì)量分析：MTF, PSF, EFL, 澤尼克系數(shù), 光學(xué)鏡頭/系統(tǒng)質(zhì)量控制

5. 熱成像分析，等離子體特征分析

6. 生物應(yīng)用：蛋白質(zhì)等組織定量相位成像

產(chǎn)品特點：

1. 高分辨率：采樣點可達(dá)120000個

2.可直接測量：消色差設(shè)計，測量前無需再次對波長校準(zhǔn)

3.消色差：干涉和衍射對波長相消

4.高動態(tài)范圍：高達(dá)500μm

5.防震設(shè)計，內(nèi)部光柵橫向剪切干涉，對實驗條件要求簡單，無需隔震平臺也可測試

型號參數(shù)：

型號	SID4	SID4-HR	SID4-DWIR	SID4-SWIR	SID4-NIR	SID4-UV-HR	SID4- UV
孔徑	3.6 × 4.8 mm2	8.9 × 11.8 mm2	13.44 × 10.08 mm2	9.6 × 7.68 mm2	3.6 × 4.8 mm2	13.6 ×10.96 mm2	8.0 × 8.0 mm2
空間分辨率	29.6 µm	29.6 µm	68 µm	120 µm	29.6 µm	40 µm	32 µm
采樣點/測量點	160 × 120	400 × 300	160 × 120	80 × 64	160 × 120	345 × 275	250 × 250
波長	400nm~1100nm	400nm~1100nm	3~5µm,8~14 µm	0.9 ~ 1.7 µm	1.5 ~ 1.6 µm	190 ~ 400 nm	250 ~ 400 nm
動態(tài)范圍	> 100 µm	> 500 µm	N/A	~ 100 µm	> 100 µm	> 200 µm	> 200 µm
精度	10 nm RMS	15 nm RMS	75 nm RMS	10 nm RMS	> 15 nm RMS	10 nm RMS	10 nm
靈敏度	< 2 nm RMS	< 2 nm RMS	< 25 nm RMS	3nm RMS(高增益） <1nmRMS(低增益）	< 11 nm RMS	1nm RMS @250nm,2µJ/cm2	0.5 nm
采樣頻率	> 60 fps	> 10 fps	> 50 fps	25/30/50/60 fps	60 fps	30 fps	30 fps
處理頻率	10 Hz (高分辨率)	3 Hz (高分辨率)	20 Hz	> 10 Hz (高分辨率）	10 Hz	> 3 Hz (高分辨率）	1 Hz
尺寸	54×46×75.3mm	54×46×79mm	85×116×179mm	50×50×90mm	44×33×57.5mm	51 × 51 × 76 mm	95×105×84mm
重量	250 g	250 g	1.6 kg	300 g	250 g	300 g	900 g

四波橫向剪切干涉技術(shù)背景介紹

Phasics四波橫向剪切干涉（上海屹持光電代理）：當(dāng)待測波前經(jīng)過波前分析儀時，光波通過特制光柵（圖1）后得到一個與其自身有一定橫向位移的復(fù)制光束，此復(fù)制光波與待測光波發(fā)生干涉，形成橫向剪切干涉，兩者重合部位出現(xiàn)干涉條紋（圖2）。被測波前可能為平面波或者匯聚波，對于平面橫向剪切干涉，為被測波前在其自身平面內(nèi)發(fā)生微小位移發(fā)生微小位移產(chǎn)生一個復(fù)制光波；而對于匯聚橫向剪切干涉，復(fù)制光波由匯聚波繞其曲率中心轉(zhuǎn)動產(chǎn)生。干涉條紋中包含有原始波前的差分信息，通過特定的分析和定量計算梳理（反傅里葉變換）可以再現(xiàn)原始波前（圖3）。

圖1.特制光柵

圖2.幾何光學(xué)描述波前畸變

圖3. 波前相位重構(gòu)示意圖

技術(shù)優(yōu)勢

1. 高采樣點：

高達(dá)400*300個采樣點，具備強大的局部畸變測試能力，降低測量不準(zhǔn)確性和噪聲；同時得到高精度強度分布圖。

2. 消色差：

干涉和衍射相結(jié)合抵消了波長因子，干涉條紋間距與光柵間距wan全相等。適應(yīng)于不多波長光學(xué)測量且不需要重復(fù)校準(zhǔn)，

3. 可直接測量高動態(tài)范圍波前：

可見光波段可達(dá)500μm的高動態(tài)范圍；可測試離焦量，大相差，非球面和復(fù)曲面等測。

圖4.測試對比圖圖5. 消色差圖6.高動態(tài)范圍測量

應(yīng)用方向：

1. 激光光束測量

可以實時測量強度相位（2D/3D）信息，Zernike/Legendre系數(shù)，遠(yuǎn)場，光束參數(shù)，光束形狀M2等。

2光學(xué)測量

Phasics波前傳感器可對光學(xué)系統(tǒng)和元器件進(jìn)行透射和反射式測量，專業(yè)Kaleo軟件可分析PSF,MTF等

光學(xué)測量透射式和反射式測量

3.光學(xué)整形：

利用Phasics波前傳感器檢測到精確的波前畸變信息，反饋給波前校正系統(tǒng)以補償待測波前的畸變，從而得到目標(biāo)波前相位分布和光束形狀。右圖上為把一束RMS=1.48λ的會聚光矯正為RMS=0.02λ的準(zhǔn)平面波；右圖下為把分散焦點光斑矯正為準(zhǔn)高斯光束。高頻率大氣湍流自適應(yīng)需要配合高頻波前分析儀。

4.光學(xué)表面測量：

Phasics的SID4軟件可以直接測量PtV, RMS, WFE和曲率半徑等，可直接進(jìn)行自我校準(zhǔn)，兩次測量相位作差等。非常方便應(yīng)用于平面球面等形貌測量。部分測量光路如右圖所示

5.等離子體測量

法國Phasics公司SID4系列等離子體分析儀(Plasma Diagnosis)是一款便攜式、高靈敏度、高精度的等離子體分析儀器。該產(chǎn)品可實時檢測激光產(chǎn)生的等離子體的電子密度、模式及傳播方式。監(jiān)測等離子體的產(chǎn)生、擴散過程，以及等離子體的品質(zhì)因數(shù)。更好地為客戶在噴嘴設(shè)計、激光脈沖的照度、氣壓、均勻性等方面提供優(yōu)化的數(shù)據(jù)支持。

附：夏克哈特曼和四波橫向剪切干涉波前分析儀對比表

	Phasics剪切干涉	夏克哈特曼	區(qū)別
技術(shù)	四波側(cè)向剪切干涉	夏克-哈特曼	PHASICS SID4是對夏克-哈特曼技術(shù)的改進(jìn)，投放市場時，已經(jīng)申請技術(shù)專li，全qiu售出超過500個探測器。
重建方式	傅里葉變換	分區(qū)方法（直接數(shù)值積分）或模式法（多項式擬合）	夏克-哈特曼波前探測器，以微透鏡單元區(qū)域的平均值來近似。對于大孔徑的透鏡單元，可能會增加信號誤差，在某些情況，產(chǎn)生嚴(yán)重影響。在分區(qū)方法中，邊界條件很重要。
光強度	由于采用傅里葉變換方法，測量對強度變化不敏感	由于需要測量焦點位置，測量對強度變化靈敏	關(guān)于測量精度，波前測量不依賴于光強度水平
使用、對準(zhǔn)方便	界面直觀，利用針孔進(jìn)行對準(zhǔn)	安裝困難，需要精密的調(diào)節(jié)臺	SID4 產(chǎn)品使用方便
取樣（測量點）	SID4-HR達(dá)300*400測量點	128*128測量點（微透鏡陣列）	SID4-HR具有很高的分辨率。這使得測量結(jié)果更可靠，也更穩(wěn)定
數(shù)值孔徑	SID4 HR NA：0.5	0.1	SID4-HR動態(tài)范圍更高
空間分辨率	29.6μm	>100μm	SID4-HR空間分辨率更好
靈敏度	2nmRMS	約λ/100	SID4-HR具有更好的靈敏度