T補(bǔ)根據(jù)試驗(yàn)室的非毀滅性亞微米光學(xué)顯微鏡的差別
Xradia410VersaT補(bǔ)了X射線光學(xué)顯微鏡與作用較弱的電子計(jì)算機(jī)斷層掃描儀(CT)系統(tǒng)軟件中間的差別。Xradia410Versa出示具備領(lǐng)域*佳分辨率，飽和度和原點(diǎn)作用的非毀滅性三維顯像，使您可以對于*普遍的樣本數(shù)開展開創(chuàng)性科學(xué)研究。應(yīng)用這類功能齊全，經(jīng)濟(jì)發(fā)展高效率的“主要”解決方法提高顯像工作內(nèi)容，即便 在不一樣的試驗(yàn)室自然環(huán)境中也是這般
靈便的試品規(guī)格和種類的領(lǐng)域的2D和原點(diǎn)工作能力
Xradia410VersaX射線光學(xué)顯微鏡可出示經(jīng)濟(jì)發(fā)展高效率，靈便的三維顯像，使您可以解決各種各樣試品和科學(xué)研究自然環(huán)境。伴隨著時(shí)間的變化，非毀滅性X射線顯像能夠保存并拓展您珍貴試品的應(yīng)用范疇。該儀器設(shè)備完成了0.9μm的真正室內(nèi)空間分辨率，*小生完成的體素規(guī)格為100nm。優(yōu)秀的消化吸收和相位差比照(適用軟塑或低Z原材料)為您出示更多用途，以擺脫傳統(tǒng)式電子計(jì)算機(jī)斷層掃描儀(工業(yè)CT)方式的局限。
XradiaVersa解決方法將科研拓展到超過根據(jù)投射的微米和納米CT系統(tǒng)軟件的極限。傳統(tǒng)式斷層掃描儀取決于單極變大倍數(shù)，Xradia410Versa選用根據(jù)同歩網(wǎng)絡(luò)加速器-規(guī)格自準(zhǔn)直的與眾不同兩環(huán)節(jié)全過程。它便于應(yīng)用，具備靈便的飽和度。長距離提升分辨率(RaaD)使您可以在原生態(tài)自然環(huán)境和各種各樣當(dāng)場鉆探機(jī)中維持普遍的試品規(guī)格的亞微米分辨率。非毀滅性多長短限度作用容許您在各種各樣變大倍數(shù)下對同一試品開展顯像，進(jìn)而能夠與眾不同地定性分析持續(xù)解決(2D)中間或遭受仿真模擬自然環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)危害時(shí)原材料外部經(jīng)濟(jì)構(gòu)造特點(diǎn)的演化(原地不動)。
除此之外，Scout-and-Scan自動控制系統(tǒng)可根據(jù)根據(jù)秘方的設(shè)定完成高效率的工作內(nèi)容自然環(huán)境，使Xradia410Versa便于為具備各種各樣工作經(jīng)驗(yàn)水準(zhǔn)的客戶出示便捷。
優(yōu)點(diǎn)
XradiaVersa構(gòu)架選用二級變大技術(shù)性，使您可以在遠(yuǎn)方(RaaD)與眾不同地完成分辨率。與傳統(tǒng)式的小型CT一樣，根據(jù)幾何圖形變大變大樣版圖象。在第二階段，閃動體將X射線轉(zhuǎn)化成能見光，隨后電子光學(xué)變大。降低對幾何圖形放大率的依靠使XradiaVersa儀器設(shè)備可以在很大的工作中間距內(nèi)維持亞微米分辨率。這使您可以合理地科學(xué)研究*普遍的樣本數(shù)，包含在原點(diǎn)房間內(nèi)。
非毀滅性三維顯像，以保存和拓展有使用價(jià)值的試品的應(yīng)用
高室內(nèi)空間分辨率低至<0.9μm，體素尺寸低至100nm
對于低Z原材料和皮下組織的優(yōu)秀比照解決方法
領(lǐng)域lp的2D和原點(diǎn)作用，適用靈便的樣本數(shù)和種類
Scout-and-Scan™自動控制系統(tǒng)，便于應(yīng)用的工作內(nèi)容設(shè)定，是多客戶自然環(huán)境的理想化挑選
輕載試品臺和拓展源和探測儀臺行程安排
*少必須試品制取
根據(jù)好幾個(gè)變大監(jiān)測系統(tǒng)輕輕松松導(dǎo)航欄
根據(jù)全自動多一點(diǎn)斷層掃描儀和反復(fù)掃描儀持續(xù)實(shí)際操作
髙速復(fù)建
可選擇的VersaInSituKit可機(jī)構(gòu)適用自然環(huán)境室(如走線和管路)的設(shè)備，以完成*大的顯像特性和便于設(shè)定，另外為當(dāng)場運(yùn)用出示*高的三維分辨率
Autoloader選擇項(xiàng)使您能夠一次程序編寫和運(yùn)作高達(dá)14個(gè)試品，進(jìn)而*大限度地提升 生產(chǎn)率，完成高容掃描儀的自動化技術(shù)工作內(nèi)容。
