【產(chǎn)品名稱】：掃描測(cè)頭
【產(chǎn)品規(guī)格】：掃描測(cè)頭
【詳細(xì)內(nèi)容】
雷尼紹提供各種類型的測(cè)頭系統(tǒng)，以更好地滿足具體的應(yīng)用需求。

掃描測(cè)頭
掃描測(cè)頭是微型測(cè)量?jī)x器，每秒能夠采集幾百個(gè)表面點(diǎn)，可以測(cè)量形狀、尺寸和位置。掃描測(cè)頭也可用于采集離散點(diǎn)，與觸發(fā)式測(cè)頭類似。

雷尼紹提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標(biāo)測(cè)量機(jī)選用。

觸發(fā)式測(cè)量系統(tǒng)
觸發(fā)式測(cè)頭測(cè)量離散的點(diǎn)，是檢測(cè)三維幾何工件的理想選擇。

雷尼紹提供品種齊全、具有理想性價(jià)比的系統(tǒng)，既可在手動(dòng)坐標(biāo)測(cè)量機(jī)上進(jìn)行簡(jiǎn)單的性能檢測(cè)，也可在數(shù)控高速機(jī)器上進(jìn)行復(fù)雜輪廓測(cè)量。

掃描測(cè)頭系統(tǒng)

掃描原理
掃描測(cè)量提供了一種從規(guī)則型面工件或其他復(fù)雜工件上高速采集形狀和輪廓數(shù)據(jù)的方法。

觸發(fā)式測(cè)頭可采集表面離散點(diǎn)，而掃描系統(tǒng)則可獲取大量的表面數(shù)據(jù)，提供更詳細(xì)的工件形狀信息。因此，在實(shí)際應(yīng)用中如果工件形狀是整個(gè)誤差預(yù)算的重要考量因素或必須對(duì)復(fù)雜表面進(jìn)行檢測(cè)，掃描測(cè)量可謂理想之選。

掃描需要根本不同的傳感器設(shè)計(jì)、機(jī)器控制和數(shù)據(jù)分析方法。

雷尼紹掃描測(cè)頭特色的輕巧無(wú)電源機(jī)構(gòu)（達(dá)或鎖定機(jī)構(gòu)），具有高固有頻率，適合高速掃描測(cè)量。分離的光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)直接（無(wú)需通過測(cè)頭機(jī)構(gòu)中的疊加軸）測(cè)量測(cè)針的偏移量，以獲得更高的精度和更快的動(dòng)態(tài)響應(yīng)。

掃描系統(tǒng)如何采集并分析表面數(shù)據(jù)？
掃描測(cè)頭提供連續(xù)的偏移量輸出，與機(jī)器位置相結(jié)合，從而獲得表面位置數(shù)據(jù)。進(jìn)行掃描測(cè)量時(shí)，測(cè)頭測(cè)尖開始與工件接觸，然后沿工件表面移動(dòng)，采集測(cè)量數(shù)據(jù)。在整個(gè)測(cè)量過程中，須將測(cè)頭測(cè)針的偏移量保持在測(cè)頭的測(cè)量范圍內(nèi)。

要想取得測(cè)量結(jié)果，需要傳感器與機(jī)器控制緊密集成，以及*的濾波運(yùn)算，以將合成數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換為可用的表面信息。掃描驅(qū)動(dòng)算法適用于工件輪廓測(cè)量，改變掃描速度使之匹配曲率的變化（表面越平，速度越快），然后調(diào)整數(shù)據(jù)采集速率（表面變化越快，采集的數(shù)據(jù)越多）。