Xradia Versa蔡司3D X-ray（X射線）
蔡司X射線斷層掃描解決方案
高分辨率Xradia Versa蔡司3D X-ray（X射線）和計算機斷層掃描
- 無損地表征材料的特性和行為。
- 從三個維度（3D）揭示微觀結(jié)構(gòu)的細節(jié)。
- 開發(fā)并確認模型或可視化結(jié)構(gòu)細節(jié)。
- 即使是相對較大的樣品，也可以實現(xiàn)高對比度和亞微米分辨率的成像。
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產(chǎn)品參數(shù)
產(chǎn)品編號: Xradia Versa所屬品牌: 蔡司ZEISS產(chǎn)品型號: Xradia Versa 額定功率：按實際方案提供所屬類別: 蔡司ZEISS所屬用途: 無損檢測NDT應(yīng)用領(lǐng)域: 金屬產(chǎn)品特性: Xradia Versa蔡司3D X-ray（X射線）亞微米XRM系列以提高各種樣品類型和大小的放大倍率，并將空間分辨率降低至500 nm，同時可實現(xiàn)的較小體素<40 nm。下載相關(guān)資料 -
Xradia Ultra
Xradia Ultra系列納 米X射線顯微鏡是僅有使用同步加速器質(zhì)量X射線光學器件并提供低至<50 nm的真實空間分辨率和較小可實現(xiàn)的16nm體素的市售X射線顯微鏡。
Xradia Context microCT
蔡司Xradia Context是一種大型視野，無損3D X射線微計算機斷層掃描系統(tǒng)，具有強大的平臺和靈活的軟件控制源/檢測器定位。
